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龙图腾网获悉中国科学院化学研究所申请的专利等离子体显微成像系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116223465B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310118234.5，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权等离子体显微成像系统是由袁景和;寇晓龙;方晓红设计研发完成，并于2023-02-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本等离子体显微成像系统在说明书摘要公布了：本发明提出了一种等离子体显微成像系统，包括照明装置、金属薄膜组件、样品扫描台、显微成像装置和探测装置。本发明通过涡旋圆偏振光激发金属薄膜上的等离子体，使表面等离子体中心汇聚，获得亚衍射极限的激发光斑，实现超分辨光学成像。本发明的等离子体显微成像系统采用单束光照明，光路简单；通过样品台放置样品，无需金属纳米结构，样品制备简单；并且，该等离子体显微成像系统具有表面等离子增强效应，灵敏度好于一般的光学系统，可达到单分子探测水平；该等离子体显微成像系统对荧光染料和样品没有任何限制，系统可用于荧光信号成像、拉曼信号成像以及其它光学散射信号成像等。

本发明授权等离子体显微成像系统在权利要求书中公布了：1.一种等离子体显微成像系统，其特征在于，包括： 照明装置，用于产生涡旋圆偏振光； 金属薄膜组件，包括金属薄膜和基底，所述金属薄膜的一面贴设于所述基底表面； 样品扫描台，所述样品扫描台用于放置样品，并实现样品成像扫描； 显微成像装置，用于将所述涡旋圆偏振光汇聚成空壳型的激发光斑，所述激发光斑激发所述金属薄膜的等离子体形成亚衍射极限的等离子体激发光斑，所述等离子体激发光斑用于激发所述样品扫描台上的样品并发射信号光； 探测装置，用于滤除激发光，并将所述信号光汇聚成像； 所述照明装置包含沿光路依次设置的激发激光器、偏振片、波片和位相板，所述激发激光器产生预设波长的激光，所述偏振片将所述激发激光器发出的激光调制为偏振光，所述波片将所述偏振光调制为圆偏振光，所述位相板将所述圆偏振光调制为涡旋圆偏振光； 所述显微成像装置包括沿光路依次设置的激发物镜，所述激发物镜接收所述照明装置射出的所述涡旋圆偏振光，并且汇聚所述涡旋圆偏振光在所述金属薄膜上形成所述激发光斑，所述空壳型光斑在所述金属薄膜的表面激发中心汇聚的表面等离子体，并产生亚衍射极限的所述等离子体激发光斑。

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