长沙道尔顿电子材料有限公司肖亚双获国家专利权
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龙图腾网获悉长沙道尔顿电子材料有限公司申请的专利一种聚合物稳定垂直配向型取向剂的光学性能测量方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116360132B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211734268.9,技术领域涉及:G02F1/13;该发明授权一种聚合物稳定垂直配向型取向剂的光学性能测量方法是由肖亚双;王胜林;黎厚明;蒋方智;苏江华设计研发完成,并于2022-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种聚合物稳定垂直配向型取向剂的光学性能测量方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种聚合物稳定垂直配向型取向剂的光学性能测量方法,步骤1:在镀有半导体ITO层的基板上涂布PSVA型取向剂膜,取向剂膜经预烘烤脱除溶剂后,还需进入烘箱高温脱水环化使取向剂膜具备液晶配向性;步骤2:通过对PSVA型取向剂膜进行打摩使其侧链结构具备固定的指向矢,步骤3:打摩后的基板在框胶的黏合作用下进行对组得到测试空盒,在真空环境下注入混合有RM单体、适量光引发剂的负性VA液晶,步骤4:给注入液晶后的测试盒施加一个大于Vth的电压,使液晶分子都按照电场方向倾倒,并通过紫外光照射使RM单体聚合反应沉积在PI膜表层,固定液晶角度从而得到完整测试盒,液晶按照固定指向整齐排列;此方法克服了鱼骨头基板设计精度高,花费成本较大,制作相对困难的问题。
本发明授权一种聚合物稳定垂直配向型取向剂的光学性能测量方法在权利要求书中公布了:1.一种聚合物稳定垂直配向型取向剂的光学性能测量方法,其具体步骤包括: 步骤1:在镀有半导体ITO层的基板上涂布PSVA型取向剂膜,取向剂膜经预烘烤脱除溶剂后,还需进入烘箱高温脱水环化使取向剂膜具备液晶配向性; 步骤2:涂布PSVA型取向剂膜的过程中,通过对PSVA型取向剂膜进行打摩使其侧链结构具备固定的指向矢,并且将预倾角由90°改到低于90°; 步骤3:打摩后的基板在框胶的黏合作用下进行对组得到测试空盒,测试空盒的高度设置为3.5μm,框胶图形留有液晶注入口,在真空环境下注入混合有RM单体、适量光引发剂的负性VA液晶,再将注入口闭合,得到PSVA测试盒; 步骤4:给测试盒施加一个大于Vth的电压,使液晶分子都按照电场方向倾倒,并通过紫外光照射使RM单体聚合反应沉积在PI膜表层,固定液晶角度液晶按照固定指向整齐排列; 步骤5:对测试面板可以评估的PSVAPI光学参数包括: 施加0V~10V间续电压,测量随电压变化的透过率分布曲线,即V-TCure; 测量OV电压和Vth电压下的面板亮度,计算对比度,开态亮度/黑态亮度; 施加一个大于Vth的电压,测量透过率由10%上升到90%的响应时间; 施加一个大于Vth的AC电压,常温或高温持续老化一定时间后的ΔAngle; 其中,PSVA型取向剂膜可采用INKJET涂布或spincoating涂布,PSVA型取向剂膜厚度为80~120nm;预烘烤温度为80~95℃,时间为100~130秒;烘烤温度为220~240℃,时间为1200~1800秒; 对PSVA型取向剂膜进行打摩的摩擦布选用材质为COTTON材质,纤维密度应低于10000根布毛长度为2.5mm,以保证液晶的初始预倾角在89.4°~89.6°之间; 所述打摩步骤选用低强度打摩,压入量设定为0.2mm~0.3mm,摩擦机平台走速设定为33.3mm/s,滚子转速设定为1000rpm; 取向剂膜的打摩方向按照180°反平行设计,上下基板均沿用180°水平方向打摩,上基板翻转贴合后面内所有液晶分子的指向矢为相同方向,液晶扭曲角为0°。
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