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龙图腾网获悉北京邮电大学;北京理工大学;雅泰歌思(上海)通讯科技有限公司申请的专利基于改进的YOLO模型的半导体激光芯片损伤探测方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117078603B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310937017.9，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权基于改进的YOLO模型的半导体激光芯片损伤探测方法和系统是由田凤;忻向军;周建伟;张琦;高然;田清华;王珏;黄鑫;张文全;王富;李志沛;郭栋设计研发完成，并于2023-07-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于改进的YOLO模型的半导体激光芯片损伤探测方法和系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于改进的YOLO模型的半导体激光芯片损伤探测方法和系统，该方法包括：将半导体激光器芯片的红外热图像输入到YOLO模型中；其中，YOLO模型包含主干提取网络和检测头，检测头包含特征融合模块和损伤探测模块；利用YOLO模型的主干提取网络对红外热图像进行特征提取，得到预设数量个尺寸递减的特征图，从中选取3个，并输入到YOLO模型的特征融合模块中；利用YOLO模型的特征融合模块对选取的三个特征图进行特征融合，得到不同尺寸的第一特征图、第二特征图和第三特征图；YOLO模型的损伤探测模块在不同尺寸的第一特征图、第二特征图和第三特征图中预测半导体激光芯片上的损伤位置和损伤类别。本发明能够聚焦于普通质量的锚框，提高检测器的整体性能。

本发明授权基于改进的YOLO模型的半导体激光芯片损伤探测方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种基于改进的YOLO模型的半导体激光芯片损伤探测方法，其特征在于，所述改进的YOLO模型通过动态交并比损失WIoU和分布焦点损失组合成的回归损失函数训练得到，该方法包括以下步骤： 将半导体激光器芯片的红外热图像输入到所述YOLO模型中；其中，YOLO模型包含主干提取网络和检测头，所述检测头包含特征融合模块和损伤探测模块； 利用YOLO模型的主干提取网络对红外热图像进行特征提取，得到预设数量个尺寸递减的特征图，从所述预设数量个尺寸递减的特征图中选取3个，并输入到YOLO模型的特征融合模块中； 利用YOLO模型的特征融合模块对选取的三个特征图进行特征融合，得到不同尺寸的第一特征图、第二特征图和第三特征图； YOLO模型的损伤探测模块在所述不同尺寸的第一特征图、第二特征图和第三特征图中预测半导体激光芯片上的损伤位置和损伤类别； 其中，所述YOLO模型为YOLOv8模型，YOLO模型的特征融合模块包含C2f模块，所述C2f模块的输入先经过卷积层的处理，再经过分割函数，预设数量个瓶颈层对分割函数的输出进行处理，将分割函数和每个瓶颈层处理后的结果进行拼接操作，将拼接操作的结果再次经过卷积层处理得到所述C2f模块的输出。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京邮电大学;北京理工大学;雅泰歌思(上海)通讯科技有限公司，其通讯地址为：100876 北京市海淀区西土城路10号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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