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龙图腾网获悉广州海洋地质调查局申请的专利一种测井井眼环境校正方法、系统、装置与介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117826261B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311486504.4，技术领域涉及：G01V1/50；该发明授权一种测井井眼环境校正方法、系统、装置与介质是由钟超;陆敬安;康冬菊;谢莹峰;余晗设计研发完成，并于2023-11-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测井井眼环境校正方法、系统、装置与介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种测井井眼环境校正方法、系统、装置和介质，方法包括步骤：获取测井的初始地层密度、井眼垮塌深度、泥质含量和密度、短长源距探测深度、泥浆密度、岩石骨架密度、孔隙流体密度以及孔隙度；根据长源距探测深度、井眼垮塌深度、泥浆密度、岩石骨架密度、孔隙流体密度以及孔隙度，确定长源距探测器的密度响应参数；根据短源距探测深度、井眼垮塌深度、泥浆密度、岩石骨架密度、孔隙流体密度以及孔隙度，确定短源距探测器的密度响应参数；根据长源距探测深度、短源距探测深度、两个密度响应参数，确定纯地层密度；根据初始地层密度、泥质含量、泥质密度以及纯地层密度，确定校正后的地层密度。本申请可广泛应用于钻井测量技术领域。

本发明授权一种测井井眼环境校正方法、系统、装置与介质在权利要求书中公布了：1.一种测井井眼环境校正方法，其特征在于，包括： 获取测井的初始地层密度、井眼垮塌深度、泥质含量、泥质密度、短源距探测深度、长源距探测深度、测井泥浆密度、岩石骨架密度、测井内未垮塌部分地层的孔隙流体密度以及测井内未垮塌部分地层的孔隙度； 根据所述长源距探测深度、所述井眼垮塌深度、所述测井泥浆密度、所述岩石骨架密度、所述孔隙流体密度以及所述孔隙度，确定长源距探测器的第一密度响应参数； 根据所述短源距探测深度、所述井眼垮塌深度、所述测井泥浆密度、所述岩石骨架密度、所述孔隙流体密度以及所述孔隙度，确定短源距探测器的第二密度响应参数； 根据所述长源距探测深度、所述短源距探测深度、所述第一密度响应参数以及所述第二密度响应参数，确定解释层段中孔隙度最大的纯地层密度； 根据所述初始地层密度、所述泥质含量、所述泥质密度以及所述纯地层密度，确定校正后的目标地层密度； 所述根据所述初始地层密度、所述泥质含量、所述泥质密度以及所述纯地层密度，确定校正后的目标地层密度这一步骤，具体包括： 根据所述初始地层密度、所述泥质含量、所述泥质密度以及所述纯地层密度，确定第一地层密度； 根据所述初始地层密度以及所述第一地层密度，确定所述目标地层密度； 所述根据所述初始地层密度、所述泥质含量、所述泥质密度以及所述纯地层密度，确定第一地层密度这一步骤，具体包括： 将所述初始地层密度、所述泥质含量、所述泥质密度以及所述纯地层密度输入至预设的地层密度确定公式，确定所述第一地层密度；其中地层密度确定公式为： DENmin=Vsh*DENsh+1-Vsh*ρb*DEN 其中DENmin为第一地层密度，Vsh为泥质含量，DENsh为泥质密度，DEN为初始地层密度，ρb为纯地层密度； 所述根据所述初始地层密度以及所述第一地层密度，确定所述目标地层密度这一步骤，具体包括： 确定初始地层密度以及所述第一地层密度的大小关系； 当所述初始地层密度大于或者等于所述第一地层密度，以所述初始地层密度作为所述目标地层密度； 当所述初始地层密度小于所述第一地层密度，以所述第一地层密度作为所述目标地层密度。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人广州海洋地质调查局，其通讯地址为：510000 广东省广州市南沙区环市大道南25号南沙科技创新中心A4栋2楼208-218房；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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