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龙图腾网获悉中国人民解放军国防科技大学申请的专利一种基于偏振光栅的宽谱偏振特征检测系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118274964B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410388853.0，技术领域涉及：G01J3/447；该发明授权一种基于偏振光栅的宽谱偏振特征检测系统及方法是由雷兵;高超;张斌;曹晓昱;翁剑宇;刘德超;项宗;王鑫雨;马鑫宇设计研发完成，并于2024-04-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于偏振光栅的宽谱偏振特征检测系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于偏振光栅的宽谱偏振特征检测系统及方法。系统包括：偏振态发生装置，用于产生待测宽谱偏振光；偏振光栅，用于将待测宽谱偏振光分束分为左旋与右旋圆偏振光，并在水平方向上发生色散；透镜，用于对分束及色散后形成的光强图案进行成像，CMOS相机，用于对成像的光强图案进行采集；以及终端装置，用于对采集到的光强图案进行分析处理得到待测光束中左右旋圆偏振的光谱强度比，并计算得到待测偏振光束的光谱椭圆度与光谱偏振方向。本发明结构简单紧凑、稳定性好且测量速度快。

本发明授权一种基于偏振光栅的宽谱偏振特征检测系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于偏振光栅的宽谱偏振特征检测系统，其特征在于，包括： 偏振态发生装置，用于产生待测宽谱偏振光； 偏振光栅，用于将待测宽谱偏振光分为左旋与右旋圆偏振光两束，并在水平方向上发生色散； 透镜，用于对分束及色散后形成的光强图案进行成像， CMOS相机，用于对成像的光强图案进行采集； 以及终端装置，用于对采集到的光强图案进行分析处理得到待测光束中左右旋圆偏振的光谱强度比，并计算得到待测偏振光束的光谱椭圆度与光谱偏振方向； 所述偏振态发生装置PSG包括依次设置的狭缝S、偏振片P和四分之一波片Q，所述狭缝S用于将宽谱光源光通过后变为竖直方向的窄带形光束，所述偏振片P和四分之一波片Q用于产生待测宽谱偏振光； 所述待测偏振光束的光谱椭圆度ελ的计算公式为： 式中，λ为波长，ILλ和IRλ为待测偏振光束的光谱椭圆度ελ在波长λ处的左旋圆偏振分量及右旋圆偏振分量的强，当ελ0时代表右旋圆偏振光，当ελ0时代表左旋圆偏振光，当ελ＝±1时代表右旋与左旋圆偏振光，而ελ＝0代表线偏振光； 基于偏振光栅的宽谱偏振特征检测系统的方法，包括以下步骤： S1、搭建所述基于偏振光栅的宽谱偏振特征检测系统； S2、采用不同波长的单色光入射至偏振光栅，并通过如下公式，对各波长λ及其所对应的像素位置进行拟合，完成各参数的标定，得到波长λ与像素对应的关系： 式中，λ为CMOS相机成像后的波长，μ＝dλxλ，为相机成像时空间位置dλ到像素位置xλ的转换因子，P为偏振光栅的周期； S3、通过CMOS相机对多个波长所对应的光强图像进行采集，得到光强图像； S4、对步骤S3得到的光强图像进行处理以获取各波长所对应的像素位置； S5、采用水平方向的线偏振光入射至偏振光栅，得到的光强图像，再通过对水平方向的线偏振光的光强图像进行分析处理以完成对偏振光栅衍射效率的校准； 所述步骤S3中待测偏振光束的光谱偏振方向αλ的计算公式为：

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