上海交通大学李小汾获国家专利权
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龙图腾网获悉上海交通大学申请的专利利用泄露电流进行的超导线圈失超检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119375793B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411567736.7，技术领域涉及：G01R33/12；该发明授权利用泄露电流进行的超导线圈失超检测方法是由李小汾;李瀛哲;赵跃;吴蔚;朱四平设计研发完成，并于2024-11-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本利用泄露电流进行的超导线圈失超检测方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种利用泄露电流进行的超导线圈失超检测方法，包括如下步骤：步骤1：在主超导带材部上邻近第一电流连接点的位置确定第一检测连接点，第一检测连接点和第一电流连接点为等电势点；步骤2：在采样超导带材部上确定第二检测连接点，第二检测连接点和第二电流连接点为等电势点；步骤3：将泄漏电流采样电路连接在第一检测连接点和第二检测连接点上，若泄漏电流采样电路检测到泄漏电流，则判定主超导带材部存在失超。本发明采用泄露电流采样电路的检测方式，解决超导磁体失超电压采样困难的问题。
本发明授权利用泄露电流进行的超导线圈失超检测方法在权利要求书中公布了：1.一种利用泄露电流进行的超导线圈失超检测方法，其特征在于，超导线圈100包括主超导带材部101和采样超导带材部102；所述主超导带材部101的一端与所述采样超导带材部102的一端相隔离，并形成有第一电流连接点1011；所述主超导带材部101的另一端与所述采样超导带材部102的另一端相连接，并形成有第二电流连接点1012； 包括如下步骤： 步骤1：在所述主超导带材部101上邻近所述第一电流连接点1011的位置确定第一检测连接点1013，所述第一检测连接点1013和所述第一电流连接点1011为等电势点； 步骤2：在所述采样超导带材部102上确定第二检测连接点1021，所述第二检测连接点1021和所述第二电流连接点1012为等电势点； 步骤3：将泄漏电流采样电路连接在所述第一检测连接点1013和所述第二检测连接点1021上，若所述泄漏电流采样电路检测到泄漏电流，则判定所述主超导带材部101存在失超。
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