北京航空航天大学刘均展获国家专利权
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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利数据处理方法、处理电路、电路控制方法和处理系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119599858B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411656460.X,技术领域涉及:G06T1/20;该发明授权数据处理方法、处理电路、电路控制方法和处理系统是由刘均展;杜少卿;康旺;张和设计研发完成,并于2024-11-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本数据处理方法、处理电路、电路控制方法和处理系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种数据处理方法、处理电路、电路控制方法和处理系统,该方法针对焦平面上的每个像素点的值复制为多个处理单元,在同一时间利用多个相同的输入值与不同的权重值进行不同的卷积计算操作,得到多个卷积结果。本发明提供的数据处理方法使得焦平面上多个卷积操作可以同时进行,提高计算效率,提高了并行度和运行速度。
本发明授权数据处理方法、处理电路、电路控制方法和处理系统在权利要求书中公布了:1.一种数据处理方法,其特征在于,所述方法包括: 针对焦平面上的每个像素点复制个处理单元;其中,卷积核的宽和高均为n,且n≥1;卷积步长为s;其中,s≥1; 在一次卷积操作中,将像素点中的每个所述处理单元与对应的卷积核的权重相乘,获得第一卷积结果;在同一行上将相同卷积核对应的所述处理单元的所述第一卷积结果进行累加,获得第二卷积结果; 将行与行之间的所述第二卷积结果的进行累加,输出最终卷积结果; 所述焦平面为j列,当s=1时,所述在一次卷积操作中,将像素点中的每个处理单元与对应的卷积核的权重相乘,获得第一卷积结果,包括: 在每个卷积区域中,对于第j1列第n1行的像素点中,将像素点的第h1位处理单元与所述卷积核中的第n1行第h1列权重相乘,其中j1<n,h1≤j1,n1为像素点在卷积区域中所处的行数,n1≤n; 在每个卷积区域中,对于第j2列第n1行的像素点中,将像素点的第h2位处理单元所述卷积核中的第n1行第h2列权重相乘,其中j-n+1<j2≤j,n-j-j2≤h2≤n; 在每个卷积区域中,对于第j3列第n1行的像素点中,将像素点的第h3位处理单元与所述卷积核中的第n1行第h3列权重相乘,得到所述第一卷积结果;其中,n≤j3≤j-n+1,h3≤n; 所述在同一行上将相同卷积核对应的所述处理单元的所述第一卷积结果进行累加,获得第二卷积结果,包括: 将焦平面每一行第j4列像素点的第1位处理单元所对应的第一卷积结果,与右侧相邻的n-1个第j5列像素点的第n2位处理单元所对应的第一卷积结果相加,获得第二卷积结果,其中j4<j5≤n+j4-1;n2=j5-j4+1; 所述将行与行之间的所述第二卷积结果的进行累加,输出最终卷积结果,包括: 在每个卷积区域的列方向中,当n个第二卷积结果中,每个第一卷积结果所对应的n个像素点的列数均相同时,将n个第二卷积结果相加,输出最终卷积结果。
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