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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利一种基于激光空间模式的SERF磁场弱测量检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119619933B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510004768.4，技术领域涉及：G01R33/032；该发明授权一种基于激光空间模式的SERF磁场弱测量检测方法是由翟跃阳;曹乾;赵彬彬;李林;许襄晋;唐钧剑设计研发完成，并于2025-01-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于激光空间模式的SERF磁场弱测量检测方法在说明书摘要公布了：一种基于激光空间模式的SERF磁场弱测量检测方法，通过对检测激光光束的空间位移进行直接测量，避免了检测激光功率波动引起的检测信号漂移，包括步骤1，利用碱金属气室的检测激光出射侧光路上的第一偏振分光棱镜所形成的透射光和反射光建立Sagnac干涉环路；步骤2，相互干涉后的透射光和反射光回到所述第一偏振分光棱镜发生合束并出射所述Sagnac干涉环路后依次经过第二λ2波片和第二偏振分光棱镜后完成后选择过程；步骤3，利用象限探测器识别检测激光线偏振旋光角在所述完成后选择过程后所引起的检测光束位移变化；步骤4，通过检测光束位移变化确定线偏振旋光角，通过线偏振旋光角确定电子自旋极化矢量的x方向分量，进而实现SERF磁场弱测量。

本发明授权一种基于激光空间模式的SERF磁场弱测量检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于激光空间模式的SERF磁场弱测量检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1，利用碱金属气室的检测激光出射侧光路上的第一偏振分光棱镜所形成的透射光和反射光建立萨格纳克Sagnac干涉环路； 步骤2，所述Sagnac干涉环路上相互干涉后的透射光和反射光回到所述第一偏振分光棱镜发生合束并出射所述Sagnac干涉环路后依次经过第二λ2波片和第二偏振分光棱镜后完成后选择过程； 步骤3，利用象限探测器识别检测激光线偏振旋光角在所述完成后选择过程后所引起的检测光束位移变化； 步骤4，通过检测光束位移变化确定线偏振旋光角，通过线偏振旋光角确定电子自旋极化矢量的x方向分量，进而实现SERF磁场弱测量； 所述Sagnac干涉环路通过弱耦合模块实现，所述弱耦合模块包括连接所述第一偏振分光棱镜透射侧的第二反射镜，以及分别连接所述第一偏振分光棱镜反射侧和所述第二反射镜的第一反射镜，所述第一偏振分光棱镜所形成的透射光在所述Sagnac干涉环路沿顺时针方向传播，所述第一偏振分光棱镜所形成的反射光在所述Sagnac干涉环路沿逆时针方向传播； 所述第一反射镜被设置在双轴位移台上，所述双轴位移台通过调整第一反射镜的位置，使得检测光束在空间上产生微小位移g，也就是耦合作用强度为g的弱耦合作用； 所述第二λ2波片和第二偏振分光棱镜构成后选择模块，所述后选择模块的右侧连接象限探测器，所述后选择模块的左侧通过第三反射镜连接所述第一偏振分光棱镜； 所述碱金属气室的检测激光入射侧依次通过λ4波片、光弹调制器、第一λ2波片和格兰泰勒棱镜连接窄线宽激光器。

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