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龙图腾网获悉合肥综合性科学中心环境研究院;中国科学院合肥物质科学研究院申请的专利一种基于光斑轮廓检测的太阳跟踪方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119645125B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411736332.6，技术领域涉及：G05D3/12；该发明授权一种基于光斑轮廓检测的太阳跟踪方法是由金岭;徐亮;万力;束胜全;孙永丰设计研发完成，并于2024-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于光斑轮廓检测的太阳跟踪方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于光斑轮廓检测的太阳跟踪方法，涉及光斑轮廓检测跟踪技术领域。该基于光斑轮廓检测的太阳跟踪方法，实时获取分析太阳光斑轮廓区域图像数据，得到太阳光斑轮廓区域的光斑位置偏离指数、光斑形状失真指数、光斑亮度均匀指数、光斑对比度均匀指数，并进行综合分析，得到太阳光斑轮廓区域的光斑综合偏离指数，将太阳光斑轮廓区域的综合偏离指数与预设的偏离阈值范围进行判断分析，并在太阳光斑轮廓区域的综合偏离指数处于预设的偏离阈值范围以外时，对接收太阳光设备进行调节分析，本发明通过对太阳光斑进行多维度综合分析，能够准确评估光斑的偏离情况，从而确保了跟踪系统能够实时捕捉到细微的偏差，及时调整跟踪方向和幅度。

本发明授权一种基于光斑轮廓检测的太阳跟踪方法在权利要求书中公布了：1.一种基于光斑轮廓检测的太阳跟踪方法，其特征在于，包括以下步骤： 实时获取接收太阳光设备的太阳光斑成像面数据，并进行预处理，所述太阳光斑成像面数据包括光阑成像面中的每个像素点的像素值和位置坐标； 对预处理后的太阳光斑成像面数据进行识别检测分析，得到太阳光斑轮廓区域图像数据，所述太阳光斑区域图像数据包括太阳光斑轮廓区域图像中每个太阳光斑像素点的像素值和位置坐标； 对太阳光斑轮廓区域图像数据进行综合分析，得到太阳光斑轮廓区域的光斑位置偏离指数、光斑形状失真指数、光斑亮度均匀指数、光斑对比度均匀指数； 对太阳光斑轮廓区域的光斑位置偏离指数、光斑形状失真指数、光斑亮度均匀指数、光斑对比度均匀指数进行综合分析，得到太阳光斑轮廓区域的光斑综合偏离指数； 将太阳光斑轮廓区域的综合偏离指数与预设的偏离阈值范围进行判断分析； 在太阳光斑轮廓区域的综合偏离指数处于预设的偏离阈值范围以外时，对接收太阳光设备进行调节分析，直至太阳光斑轮廓区域的综合偏离指数处于预设的偏离阈值范围之内。

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