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龙图腾网获悉中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所申请的专利一种基于微气室双吸收谱的快速测温方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119779507B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411702615.9，技术领域涉及：G01K11/32；该发明授权一种基于微气室双吸收谱的快速测温方法及装置是由李小宽;李维;李昱东;刘雅丽;冯梁森设计研发完成，并于2024-11-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于微气室双吸收谱的快速测温方法及装置在说明书摘要公布了：一种基于微气室双吸收谱的快速测温方法及装置，属于激光吸收谱传感领域。本发明的装置包括光源模块、线性扫频控制模块、测温模块、信号采集及温度解算模块。本发明利用扫描源、光纤马赫‑曾德尔干涉仪和反馈控制电路保证光学扫频线性度，通过声光调制器产生两条频差已知且携带温度信息的两条吸收谱线，基于时域上频差固定的两条吸收谱上的同一个吸收峰时间差对应声光调制器驱动频率，即ΔT＝T1‑T2对应声光调制器驱动频率f，将吸收谱由时域映射至频域，再通过提取频域吸收谱上与温度有关的参数计算得到气室所处温度。本发明能够解决传统多普勒展宽测温系统复杂难题，具有测量体积小、成本低、速度快、稳定性高、适应性强等优点。

本发明授权一种基于微气室双吸收谱的快速测温方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种基于微气室双吸收谱的快速测温装置，其特征在于：包括光源模块1、线性扫频控制模块2、测温模块3、信号采集及温度解算模块4；所述光源模块1用于提供窄线宽宽调谐扫频激光；所述线性扫频控制模块2基于扫描源、光纤马赫-曾德尔干涉仪以及反馈控制电路实现光学线性扫频；所述测温模块3通过声光调制器产生两条携带温度信息的微气室吸收谱信号；所述信号采集及温度解算模块4用于采集两条吸收谱，并根据两条吸收谱解算出气室所处温度； 所述光源模块1输出光分成两束光，两束光同时分别进入线性扫频控制模块2与测温模块3；所述线性扫频控制模块2利用扫描源、光纤马赫-曾德尔干涉仪和反馈控制电路控制光源模块1输出光实现线性扫频；扫描源输出锯齿波，使光源模块1输出光覆盖原子或分子吸收线；所述光源模块1输出光进入光纤马赫-曾德尔干涉仪后分为两路，一路为光纤跳线，另外一路为延时光纤，两路汇合后在探测器中拍频产生扫频非线性校正信号，通过反馈控制电路实现非线性校正信号稳定，保证扫频过程中光频线性输出；锯齿波扫频时的注入电流与输出光频具有非线性，通过扫描源、光纤马赫-曾德尔干涉仪和反馈控制电路，提升扫频过程光频线性度；所述测温模块3利用声光调制器产生两条频差已知且与温度有关的吸收谱信号，两条吸收谱中的同一吸收峰出现时间差对应声光调制器驱动频率f；结合线性扫频控制模块2和测温模块3，在保证光源模块1输出光实现线性扫频基础上，基于两条谱线同一个峰在两条吸收谱线上的时间差对应驱动频率的原理，即ΔT＝T1-T2对应声光调制器驱动频率f，实现吸收谱信号频率标定，进而将吸收谱由时域映射至频域；提取频域吸收谱多普勒半高宽，再代入测温公式得到热力学温度； 所述测温模块3包括半波片301、声光调制器302、气室温控模块303、MEMS气室304、第一透镜305、第一探测器306、第二透镜307、第二探测器308；所述半波片301用以调整偏振分光棱镜104透射光的偏振方向；所述声光调制器302产生0级和+1级两束衍射光；所述气室温控模块303为MEMS微气室304提供温控及磁屏蔽功能；所述MEMS微气室304为温度传感器件；所述第一透镜305与第一探测器306组合实现0级衍射光收集；所述第二透镜307与第二探测器308组合实现+1级衍射光收集；偏振分光棱镜104透射光经过半波片301、声光调制器302后产生0级和+1级衍射光，这两束光与气室温控模块303内部的MEMS气室304相互作用，随后携带温度信息的两束光分别通过相应透镜被对应的探测器收集。

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