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龙图腾网获悉中天微(天津)电子科技有限公司申请的专利一种纳秒量级延时的晶体管可靠性测试系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120722149B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511171475.1，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种纳秒量级延时的晶体管可靠性测试系统及方法是由罗锋;胡志昊;谭琨;胡存刚;肖知明;曹文平;朱文杰;李牧恩设计研发完成，并于2025-08-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种纳秒量级延时的晶体管可靠性测试系统及方法在说明书摘要公布了：一种纳秒量级延时的晶体管可靠性测试系统及方法，属于晶体管测试技术领域。该测试系统分为3部分：分别是电压应力值及应力时长控制模块、电流控制模块、硬开关瞬态及导通电阻测试模块。分别用来控制待测晶体管所受漏极电压应力值及漏极电压应力时长；硬开关测试时电流大小；导通时长。测试系统通过硬件电路处理信号，可以将输入的单路脉冲信号转化出带有“死区时间”的两路反相的脉冲信号，提高了测试系统的安全性。只需对3个模块分别输入一个脉冲信号即可灵活调控待测晶体管漏极电压应力时长、电流、导通时长。仿真及实验证明漏极电压应力结束切换到测试状态的测量延时为纳秒量级，对于实时监测晶体管漏极电压应力后性能退化具有重要意义。

本发明授权一种纳秒量级延时的晶体管可靠性测试系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种纳秒量级延时的晶体管可靠性测试系统，其特征在于，包括电压应力值及应力时长控制模块、电流控制模块、硬开关瞬态及导通电阻测试模块，所述的电压应力值及应力时长控制模块、电流控制模块、硬开关瞬态及导通电阻测试模块均分别包括逻辑电路和功率电路两部分； 其中，电压应力值及应力时长控制模块用来控制待测晶体管所受漏极电压应力值及漏极电压应力时长；电流控制模块用来控制待测晶体管硬开关测试时电流大小；硬开关瞬态及导通电阻测试模块用来控制待测晶体管硬开关后的导通时长； 所述的电压应力值及应力时长控制模块的逻辑电路、硬开关瞬态及导通电阻测试模块的逻辑电路均包括NMOS晶体管、电阻、电容、肖特基二极管、栅极驱动芯片，该逻辑电路通过“硬件电路”将外部输入的一路脉冲信号转化为带有“死区时间”的两路反相的脉冲信号，并将两路脉冲信号输入功率电路；电流控制模块的逻辑电路部分包括栅极驱动芯片，该逻辑电路将输入的一路脉冲信号转化为“具备输出瞬态大电流能力”的脉冲信号，并将脉冲信号输入功率电路。

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