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龙图腾网获悉上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司;上海集成电路研发中心有限公司申请的专利透射测试装置、信噪比测试系统及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114066832B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111313692.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权透射测试装置、信噪比测试系统及测试方法是由白丽莎;张悦强;叶红波;温建新设计研发完成，并于2021-11-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本透射测试装置、信噪比测试系统及测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种透射测试装置，包括至少一个透射测试单元，所述透射测试单元包括第一透射测试子单元、第二透射测试子单元和第三透射测试子单元，所述第一透射测试子单元和所述第二透射测试子单元相接触，且均设置于所述第三透射测试子单元上，所述第一透射测试子单元的光学密度与所述第三透射测试子单元的光学密度的差等于所述第三透射测试子单元的光学密度与所述第二透射测试子单元的光学密度的差，且所述第三透射测试子单元的光学密度与所述第二透射测试子单元的光学密度的差小于或等于0.3，便于通过对比度获得信噪比，减少了HDR融合与色调映射不单调对信噪比的影响。本发明还有提供了一种信噪比测试系统及测试方法。

本发明授权透射测试装置、信噪比测试系统及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种信噪比测试系统，其特征在于，包括： 透射测试装置，包括背景模块、发光单元和至少一个透射测试单元，所述透射测试单元均设置于所述背景模块上，所述发光单元设置于所述背景模块背向所述透射测试单元的一侧；所述透射测试单元包括第一透射测试子单元、第二透射测试子单元和第三透射测试子单元，所述第一透射测试子单元和所述第二透射测试子单元相接触，且均设置于所述第三透射测试子单元上，每一个所述透射测试单元中，所述第一透射测试子单元的光学密度与所述第三透射测试子单元的光学密度的差等于所述第三透射测试子单元的光学密度与所述第二透射测试子单元的光学密度的差，且所述第三透射测试子单元的光学密度与所述第二透射测试子单元的光学密度的差小于或等于0.3； 采集单元，用于采集所述透射测试单元的图像； 获取单元，用于获取第一透射测试子单元在所述图像中所对应区域的第一像素矩阵以及第二透射测试子单元在所述图像中所对应区域的第二像素矩阵； 第一计算单元，用于通过信噪比公式计算基于对比度的信噪比，所述信噪比公式为SNR_CR=20×logmeanDN_A-DN_BstdDN_A-DN_B，DN_A表示所述第一像素矩阵，DN_B表示所述第二像素矩阵，mean表示求均值，std表示求标准差，SNR_CR表示基于对比度的信噪比。

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