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龙图腾网获悉深圳华电通讯有限公司申请的专利一种固态硬盘及坏块筛选方法、计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114416443B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111583948.0，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权一种固态硬盘及坏块筛选方法、计算机可读存储介质是由请求不公布姓名;请求不公布姓名设计研发完成，并于2021-12-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种固态硬盘及坏块筛选方法、计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种固态硬盘及坏块筛选方法、计算机可读存储介质，该固态硬盘应用于宽温环境，包括存储单元和控制器；其中，宽温包括‑40～85℃；存储单元包括存储块，且存储块在宽温环境中的读写错误比特翻转数超过阈值后被测定为坏块。本申请中，需要根据固态硬盘的在宽温环境来基于读写错误比特翻转数对目标固态硬盘的存储块进行坏块筛选，使得最终筛选出的坏块可以反映固态硬盘在宽温环境下可能出现的存储问题，可以提高固态硬盘的坏块筛选准确率。本申请提供的一种固态硬盘坏块筛选方法及计算机可读存储介质也解决了相应技术问题。

本发明授权一种固态硬盘及坏块筛选方法、计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种应用于宽温环境的固态硬盘，其特征在于，包括存储单元和控制器； 其中，所述宽温包括-40~85℃；所述存储单元包括存储块，且所述存储块在所述宽温环境中的读写错误比特翻转数超过阈值后被测定为坏块；错误比特翻转数指对同一存储块写入和读取的数据以二进制形式进行比较并统计不相等比特的数量； 其中，所述控制器用于： 对于每一所述存储块，基于所述存储块中数据页的错误比特翻转数，确定所述存储块的错误比特翻转数； 确定组成晶粒的所述存储块的错误比特翻转数的最大值和平均值； 基于Nand闪存的类型及工作温度，确定所述晶粒的坏块筛选系数； 通过运算公式，基于组成晶粒的所述存储块的错误比特翻转数的最大值、所述平均值和所述坏块筛选系数，确定所述坏块筛选动态阈值； 基于所述存储块的错误比特翻转数及所述坏块筛选动态阈值，筛选出所述坏块； 所述运算公式包括： ThrEBCdie=MaxEBCblk–AvgEBCblk*K+AvgEBCblk； 其中，ThrEBCdie表示所述坏块筛选动态阈值；MaxEBCblk表示组成晶粒的所述存储块的错误比特翻转数的最大值；AvgEBCblk表示所述平均值；K表示所述坏块筛选系数。

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