长鑫存储技术有限公司刘建斌获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利一种测试设备及电源噪声测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115097227B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210667131.X，技术领域涉及：G01R29/26；该发明授权一种测试设备及电源噪声测试方法是由刘建斌;马茂松设计研发完成，并于2022-06-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种测试设备及电源噪声测试方法在说明书摘要公布了：本公开涉及集成电路技术领域，公开一种测试设备及电源噪声测试方法。该测试设备用于测量内存芯片的电源噪声，所述测试设备包括：噪音生成模块，所述噪音生成模块的负载电流随预设的电流曲线进行变化；信号传输模块，连接于所述噪音生成模块和主板之间，所述信号传输模块具有与内存封装结构相匹配的电气参数。本公开提供的测试设备不依赖于内存的生产，在内存芯片的设计阶段即可根据内存芯片的设计参数对内存芯片的电源噪声进行提前测量，通过该测试设备可以模拟内存芯片在实际运行时所产生的电源噪声来判断内存芯片是否会存在风险，该测量结果可以用于指导内存芯片的制造，从而可以提高内存芯片的良品率。
本发明授权一种测试设备及电源噪声测试方法在权利要求书中公布了：1.一种测试设备，其特征在于，用于获取内存芯片的电源噪声，所述测试设备包括： 噪音生成模块，所述噪音生成模块的负载电流随预设的电流曲线进行变化； 信号传输模块，连接于所述噪音生成模块和主板之间，所述信号传输模块的等效电阻、等效电感和等效电容分别与所述内存封装结构的等效电阻、等效电感和等效电容对应相同； 电压获取模块，连接于所述信号传输模块与所述噪音生成模块的连接处，所述电压获取模块用于在所述噪音生成模块的负载电流变化时获取所述连接处的电压信号，所述电压信号用于确定所述内存芯片的电源噪声。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
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