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龙图腾网获悉武汉理工大学重庆研究院;湖北工业大学申请的专利平板屏隙尺寸精密测量方法、系统、介质、设备及终端获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115775230B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211440246.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权平板屏隙尺寸精密测量方法、系统、介质、设备及终端是由胡新宇;王福生;刘锡阳;张骏巍;宋连设计研发完成，并于2022-11-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本平板屏隙尺寸精密测量方法、系统、介质、设备及终端在说明书摘要公布了：本发明属于平板屏隙尺寸测量技术领域，公开了一种平板屏隙尺寸精密测量方法、系统、介质、设备及终端，通过灰度化和设置感兴趣区域，从k个子块中进行像素统计；通过基于分块统计的区域提取与分割获取R区外边缘区域；通过基于二分法的自适应霍夫直线检测实现R区局部图像中外边缘的精确定位；将二分法应用于Hough变换，使得Hough变换适应所有的屏隙局部图像并完成自适应直线检测。本发明通过灰度化和设置感兴趣区域，减少了图像的复杂性和突出了检测目标的占比，提高了图像算法的执行时间，提高了效率；通过区域提取使得后续算法可以较好地处理外边缘，排除其他边缘的干扰；通过自适应阈值分割，提高了算法的准确性和分割的效率。

本发明授权平板屏隙尺寸精密测量方法、系统、介质、设备及终端在权利要求书中公布了：1.一种平板屏隙尺寸精密测量方法，其特征在于，平板屏隙尺寸精密测量方法包括以下步骤： 步骤一，根据局部图像采集位置确定R区局部图像所属部位L，对原RGB图像进行灰度化并设置感兴趣区域ROI； 步骤二，根据对称轴等距划分k个子块并设置子块中的统计窗口，对子块不同位置的窗口区域像素进行均值和标准差统计； 步骤三，确定k个子块中的外边缘中点和外边缘区域的分割阈值，粗定位外边缘的中点和角度并计算自适应分割阈值； 步骤四，构建外边缘的最小包围矩形以提取外边缘区域，以自适应分割阈值对外边缘区域进行二值分割； 步骤五，对二值分割后的外边缘区域进行边缘提取，以基于二分法的Hough变换检测外边缘直线，融合局部测量点的信息完成屏隙尺寸的精密测量，根据16幅局部图像中外边缘的中点，求出16个局部外边缘测量点的物理坐标，根据下式测量局部外边缘的距离，对多组局部外边缘测距结果取平均值得到R区外边缘的距离，根据标准的触摸屏尺寸间接实现屏隙尺寸的精密测量；

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人武汉理工大学重庆研究院;湖北工业大学，其通讯地址为：401121 重庆市渝北区龙兴镇两江大道618号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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