中国科学院福建物质结构研究所何超获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院福建物质结构研究所申请的专利一种晶体三维定向的方法和晶体的加工方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116399890B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310186407.7,技术领域涉及:G01N23/207;该发明授权一种晶体三维定向的方法和晶体的加工方法是由何超;唐海跃;苏榕冰;张文杰;王祖建;杨晓明设计研发完成,并于2023-03-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种晶体三维定向的方法和晶体的加工方法在说明书摘要公布了:本申请公开了一种晶体三维定向的方法和晶体的加工方法,所述的方法包括:从待测晶体上切割测试晶片;获取所述测试晶片切割面的X射线衍射图谱,确定测试晶片的X射线衍射图谱中最强衍射峰代表的晶面指数h1k1l1;采用X射线定向仪获取晶面h1k1l1与所述测试晶片切割面之间的偏角,对所述切割面进行修正,获取晶面指数为h1k1l1的切割面;选定一个晶面h2k2l2,利用X射线定向仪确定晶面h2k2l2和晶面h1k1l1的交线方向[uvw];利用晶面h1k1l1和交线方向[uvw],获取晶体的三维方向。该方法解决了没有劳厄晶体定向仪也能快速准确的对晶体进行三维定向。
本发明授权一种晶体三维定向的方法和晶体的加工方法在权利要求书中公布了:1.一种晶体三维定向的方法,其特征在于, 所述的方法包括: 1从待测晶体上切割测试晶片; 2获取所述测试晶片的切割面的X射线衍射图谱,和所述待测晶体的粉末X射线衍射图谱比照,确定测试晶片的X射线衍射图谱中最强衍射峰代表的晶面h1k1l1; 3采用X射线定向仪获取所述测试晶片的最强衍射峰所属的晶面h1k1l1与所述测试晶片的切割面之间的偏角,获取偏角后,对所述测试晶片的切割面进行修正,获取晶面h1k1l1的切割面; 4选定一个晶面h2k2l2,以晶面h2k2l2和晶面h1k1l1的晶面夹角δ相对小为原则,利用X射线定向仪确定晶面h2k2l2和晶面h1k1l1的交线方向[uvw]; 5利用晶面h1k1l1和两晶面的交线方向[uvw],获取晶体的三维方向; 所述晶面h2k2l2的选取满足:或; 其中,θ2为晶面h2k2l2的衍射角; δ为晶面h1k1l1与晶面h2k2l2的夹角; φ为X射线定向仪的样品旋转台的量程[0,φ]; 所述晶面h2k2l2的选取满足: ; 其中,θ2为晶面h2k2l2的衍射角; δ为晶面h1k1l1与晶面h2k2l2的夹角; φ为X射线定向仪的样品旋转台的量程[0,φ]。
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