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龙图腾网获悉中国科学院福建物质结构研究所申请的专利一种测量小尺寸光学材料折射率的装置与方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118150525B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410233261.1，技术领域涉及：G01N21/41；该发明授权一种测量小尺寸光学材料折射率的装置与方法是由李丙轩;陈瑞平;张戈;黄凌雄设计研发完成，并于2024-02-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测量小尺寸光学材料折射率的装置与方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种测量小尺寸光学材料折射率的装置，包括依次设置的激光发生部、隔离器、滤光片组、偏振元件组、扩束镜、小孔光阑组、透镜组、样品室、分光镜片，成像模块、探测模块和计算模块，准确度高，对微小尺寸的待测光学材料也可以精准测量，不仅能引入多种波长进行测试，成本低，稳定性高，市场价值巨大，还能引入温度场、电场、磁场等测试，适用范围广。

本发明授权一种测量小尺寸光学材料折射率的装置与方法在权利要求书中公布了：1.一种测量小尺寸光学材料折射率的装置，其特征在于，包括依次设置的激光发生部、隔离器、第一滤光片、第一偏振元件、扩束镜、第一小孔光阑、第一透镜、样品室、第二透镜、分光镜片； 所述分光镜片将原光路分为第一光路和第二光路； 沿第一光路依次设置有第二偏振元件、第二滤光片、第二小孔光阑和成像模块； 沿第二光路依次设置有第三偏振元件、第三滤光片、第三小孔光阑和探测模块； 所述成像模块和所述探测模块分别与计算模块相连； 所述成像模块和所述探测模块可以沿光路移动，二者相互校准以准确判断移动的距离； 针对各向异性的待测样品的测量，包括如下步骤： S1：在未放置待测样品的情况下，将第二偏振元件和第三偏振元件旋转至与第一偏振元件垂直的方向，此时，第一光路成像最弱或消失，第二光路光强达到最小值或消光状态； 将所述待测样品装入样品室，以光路方向作为旋转轴旋转所述待测样品，将两次出现消光的角度分别记为X方向、Z方向； S2：选定待测波长为λ，由激光发生部发出，经过隔离器、第一滤光片； 控制第一偏振元件为X方向，确认光路经过扩束镜、第一小孔光阑、第一透镜后聚焦在待测样品上； S3：改变成像模块和探测模块的位置，并在不同的位置分别测量探测模块的强度P与位移量L的关系P=FL； 取P一阶导数P’=0，得到极值点分别记为L和L 计算位移量L=|L-L|，结合成像模块的数据，判断是否正确； S4：根据折射率测量公式记录准确的折射率n=Ld+1； 其中，d为所述待测样品的厚度，L为位移量； S5：多次更换待测波长，按照选定的待测波长对应调整其适用的光隔离器、滤光片组、偏振元件组，重复步骤S3-S4，逐一测试不同波长λN下的折射率，将计算出的待测样品的折射率记为n@λNamp;X，最终拟合待测样品在X方向的折射率色散方程并得到相应的折射率曲线； S6：控制第一偏振元件为Z方向，多次选定不同待测波长λM，按照选定的待测波长对应调整其适用的光隔离器、滤光片组、偏振元件组，重复步骤S3-S4，将计算出的待测样品的折射率记为n@λMamp;Z，最终拟合待测样品在Z方向的折射率色散方程并得到相应的折射率曲线。

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