厦门大学;昆山厦大创新中心吴雅苹获国家专利权
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龙图腾网获悉厦门大学;昆山厦大创新中心申请的专利一种适用于扫描隧道显微分析的薄层层状材料剥离方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118731419B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410749996.X，技术领域涉及：G01Q30/20；该发明授权一种适用于扫描隧道显微分析的薄层层状材料剥离方法是由吴雅苹;张宗南;康俊勇;李书平;吴志明;李煦设计研发完成，并于2024-06-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种适用于扫描隧道显微分析的薄层层状材料剥离方法在说明书摘要公布了：本发明具体公开了一种适用于扫描隧道显微分析的薄层层状材料剥离的方法，包括以下步骤：取层状材料单晶块体置于两片PDMS薄膜之间，压紧贴实后撕掉一层PDMS薄膜，得到层状材料单晶块体PDMS薄膜；取高真空导电胶涂于衬底表面，然后将所得层状材料单晶块体PDMS薄膜的层状材料单晶块体表面与衬底压紧贴实，得到PDMS薄膜层状材料单晶块体高真空导电胶衬底；将PDMS薄膜层状材料单晶块体高真空导电胶衬底加热使导电胶固化，加热结束后将PDMS薄膜撕掉，得到层状材料单晶块体高真空导电胶衬底；取粘性胶带贴合于层状材料单晶块体高真空导电胶衬底的层状材料单晶块体的外表面，然后迅速撕掉胶带，重复该过程直到层状材料呈浅蓝色或接近透明。
本发明授权一种适用于扫描隧道显微分析的薄层层状材料剥离方法在权利要求书中公布了：1.一种适用于扫描隧道显微分析的薄层层状材料剥离的方法，其特征在于，包括以下步骤： 1取目标层状材料单晶块体置于两片PDMS薄膜之间，压紧贴实后撕掉一层PDMS薄膜，得到层状材料单晶块体PDMS薄膜； 2取高真空导电胶涂于所需的衬底表面，然后将步骤1所得层状材料单晶块体PDMS薄膜的层状材料单晶块体外表面紧贴于衬底上并按压，得到PDMS薄膜层状材料单晶块体高真空导电胶衬底； 3将步骤2所得PDMS薄膜层状材料单晶块体高真空导电胶衬底加热使导电胶固化，加热结束后将PDMS薄膜撕掉，得到层状材料单晶块体高真空导电胶衬底； 4取粘性胶带贴合于步骤3所得的层状材料单晶块体高真空导电胶衬底的层状材料单晶块体外表面，然后迅速撕掉胶带，重复该过程直到在金相显微镜下观察到层状材料呈浅蓝色或接近透明，得到少层层状材料高真空导电胶衬底。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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