北京理工大学汤亮获国家专利权
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龙图腾网获悉北京理工大学申请的专利一种高精度抗振动大口径机械移相干涉测量方法与装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119086019B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411335245.X，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种高精度抗振动大口径机械移相干涉测量方法与装置是由汤亮;杨帅;赵维谦;邱丽荣设计研发完成，并于2024-09-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种高精度抗振动大口径机械移相干涉测量方法与装置在说明书摘要公布了：本发明公开的一种高精度抗振动大口径机械移相干涉测量方法与装置，属于光学精密测量技术领域。本发明实现方法为：通过主成分分析方法获取移相量初值；通过计算干涉图的背景光强和调制度参数，得到迭代算法的初始值；通过建立环境振动误差模型，提高对被测环境振动等噪声的抑制能力；通过迭代线性回归算法结合被测面形的初始估计，并对空间和时间变量分别迭代求解，提高系统的响应速度和测量精度。本发明具有收敛速度快、鲁棒性强的特点，通过对被测面形的初始值以及调制度和背景噪声的获取，通过随时间变化的噪声模型的构建，实现环境噪声的抑制，实现大口径光学元件面形参数的高精度测量。
本发明授权一种高精度抗振动大口径机械移相干涉测量方法与装置在权利要求书中公布了：1.一种高精度抗振动大口径机械移相干涉测量方法，其特征在于：包括如下步骤， 步骤一：通过大口径干涉仪采集被测面形的干涉条纹图，通过主成分分析处理得到被测面形的相位分布，并计算得出移相量真实初始值； 步骤二：通过步骤一中获得的干涉条纹图，获取真实的背景光光强和调制度； 步骤三：建立环境振动噪声的误差模型，基于环境振动噪声的误差模型进行噪声抑制； 步骤四：根据步骤二得到的背景光光强和调制度，结合步骤三建立的环境振动噪声模型，采用迭代线性回归算法迭代拟合移相平面并提取待测相位，即实现高精度抗振动大口径机械移相干涉测量。
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