西安电子科技大学李强获国家专利权
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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利一种具有纹理特征的高精度集成成像3D显著目标检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119515824B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411578254.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种具有纹理特征的高精度集成成像3D显著目标检测方法是由李强;李婉芸;赵迪;董炳智;王晓蕊设计研发完成，并于2024-11-07向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种具有纹理特征的高精度集成成像3D显著目标检测方法在说明书摘要公布了：本发明提出一种具有纹理特征的高精度集成成像3D显著目标检测方法，该方法包括四维光场数据的获取、微图像阵列的高精度显著目标检测、显著微图像阵列的纹理特征补偿与具有纹理特征的高精度显著微图像阵列三维重建四个过程，该方法将采集的四维光场数据生成微图像阵列，将其作为高精度显著目标检测的输入，通过重组折叠操作与循环编码译码，充分挖掘跨区域全局显著性特征，生成高精度的显著微图像阵列，再利用分层式纹理特征补偿方法，分别还原与生成区域显著微图像阵列和边缘显著微图像阵列的纹理特征，最终借助透镜阵列对具有纹理特征的高精度显著微图像阵列三维重建，有效简化了后续计算机视觉任务，并对显著目标提供精细彩色的三维显示。
本发明授权一种具有纹理特征的高精度集成成像3D显著目标检测方法在权利要求书中公布了：1.一种具有纹理特征的高精度集成成像3D显著目标检测方法，其特征在于，所述方法包括四维光场数据的获取、微图像阵列的高精度显著目标检测、显著微图像阵列的纹理特征补偿与具有纹理特征的高精度显著微图像阵列三维重建四个过程；四维光场数据获取过程中，建立真实或虚拟相机阵列，对光场信息进行多角度采集，通过像素映射算法生成微图像阵列；在微图像阵列的高精度显著目标检测过程中，将微图像阵列分割得到微图像序列，对其循环n次编码与解码，得到一张高精度显著微图像阵列；在显著微图像阵列纹理特征补偿的过程中，分层还原区域显著微图像阵列与边界显著微图像阵列的纹理特征，获得一张具有纹理特征的高精度显著微图像阵列；在具有纹理特征的显著微图像阵列三维重建的过程中，利用透镜阵列得到彩色的3D显著物体，充分展现其表面丰富的纹理细节，实现具有纹理特征的高精度集成成像3D显著目标检测与重建。
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