中国科学院力学研究所应黎坪获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院力学研究所申请的专利一种基于基面力单元法的材料损伤问题的分析方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119832998B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411899498.X，技术领域涉及：G16C10/00；该发明授权一种基于基面力单元法的材料损伤问题的分析方法是由应黎坪;李玉琼;韩宗芳;袁征;吕志远设计研发完成，并于2024-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于基面力单元法的材料损伤问题的分析方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于基面力单元法的材料损伤问题的分析方法，其具体包括：1基于势能原理的基面力单元法，建立静力损伤问题的基面力元模型；2构建材料动力损伤问题的动力基面力元方程；3采用Newmark‑β法求解上述步骤2的动力基面力元方程，获取材料在动态载荷作用下的损伤演化过程。本发明构思合理，能显著提高对网格畸变的适应性，数学模型更为简洁，显著提升了材料损伤问题的获取效率，可应用于材料的有限元损伤分析，具有较为广阔的应用前景。
本发明授权一种基于基面力单元法的材料损伤问题的分析方法在权利要求书中公布了：1.一种基于基面力单元法的材料损伤问题的分析方法，其特征在于，具体包括以下步骤： 1基于势能原理的基面力单元法，建立静力损伤问题的基面力元模型； 2构建材料动力损伤问题的动力基面力元方程；具体过程为： 运用达朗贝尔原理得到基面力单元各节点的动力平衡方程，基于动力平衡方程构建动力基面力元方程，如下所示： 21； 式21中，、和分别表示结构各节点的加速度向量、速度向量和位移向量；、、分别表示结构的整体质量矩阵、阻尼矩阵和刚度矩阵；表示结构的动荷载列阵； 所述质量矩阵采用集中质量矩阵的方法，对于平面单元按照静力等效原则将单元的质量平均分配到节点上，平面单元的集中质量矩阵可以表示为： 22； 上式22中，为单元密度，为单元面积，为单元厚度，为单元节点数； 所述阻尼矩阵采用Rayleigh阻尼模型，其可表达为质量矩阵和刚度矩阵的线性组合： 23； 式23中，α和β是不依赖于频率的比例系数； 3采用Newmark-β法求解上述步骤2的动力基面力元方程，获取材料在动态载荷作用下的损伤演化过程。
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