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龙图腾网获悉昆山迈致治具科技有限公司申请的专利芯片密封性及电阻检测设备及其控制方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119984648B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510135333.3，技术领域涉及：G01M3/02；该发明授权芯片密封性及电阻检测设备及其控制方法是由严泽航;马明明;王家金;代自彬;舒剑设计研发完成，并于2025-02-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片密封性及电阻检测设备及其控制方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种芯片密封性及电阻检测设备及其控制方法，属于芯片检测技术领域。该设备包括：移动模组，包括可沿水平方向移动的运动基台；治具，固设于运动基台处，治具包括用于定位待测芯片的第一腔体；电阻检测模块，固设于运动基台处且位于治具下方，电阻检测模块用于在检测位处检测待测芯片的电阻元件的通断；密封性检测模块，设置于检测位且包括可升降的密封压头和气密性测试接头，密封压头的下表面设有第二腔体，第二腔体与气密性测试接头连通，气密性测试接头与气密性检测仪器相连，治具位于检测位时密封压头下降至与治具贴合的高度，以使得第二腔体和第一腔体共同形成密封空间。本发明的检测设备检测效率高且整体体积较小。

本发明授权芯片密封性及电阻检测设备及其控制方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片密封性及电阻检测设备，其特征在于，包括： 移动模组，包括可沿水平方向移动的运动基台； 治具，固设于所述运动基台处，所述治具包括用于定位待测芯片的第一腔体，所述待测芯片包括基板和位于所述基板上的盖板； 电阻检测模块，固设于所述运动基台处且位于所述治具下方，所述电阻检测模块和所述治具跟随所述运动基台从接料位运动至检测位，所述电阻检测模块用于在所述检测位处检测所述待测芯片的电阻元件的通断； 密封性检测模块，设置于所述检测位且包括可升降的密封压头和气密性测试接头，所述密封压头的下表面设有第二腔体，所述第二腔体与所述气密性测试接头连通，所述气密性测试接头与气密性检测仪器相连，所述治具位于所述检测位时所述密封压头下降至与所述治具贴合的高度，以使得所述第二腔体和所述第一腔体共同形成密封空间，所述密封空间用于密封所述基板和所述盖板； 所述电阻检测模块包括探针基座和安装于所述探针基座的上表面处的探针组； 所述探针基座和所述治具中的一个设有导向套，另一个设有导向柱，所述导向套和所述导向柱相适配，以保证所述探针组与所述电阻元件对应的探点对齐； 所述电阻检测模块还包括可相对于所述探针基座升降的顶块，所述顶块设有用于穿设所述探针组的各个探针的通孔，所述顶块未接触所述待测芯片时，所述探针位于所述通孔内，所述顶块接触所述待测芯片后，所述探针可控地伸出所述通孔并与对应的探点接触； 电阻检测和密封性检测同步进行。

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