重庆邮电大学;重庆析微探物科技有限公司刘凯凯获国家专利权
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龙图腾网获悉重庆邮电大学;重庆析微探物科技有限公司申请的专利一种基于初相误差消除的InSAR亚毫米级高精度形变量检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120065218B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510100420.5，技术领域涉及：G01S13/90；该发明授权一种基于初相误差消除的InSAR亚毫米级高精度形变量检测方法是由刘凯凯;李悦;刘宇微;桂术亮;李泽设计研发完成，并于2025-01-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于初相误差消除的InSAR亚毫米级高精度形变量检测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于初相误差消除的InSAR亚毫米级高精度形变量检测方法，属于电子信号处理领域。首先，使用毫米波雷达设备对目标区域做监测扫描并实现SAR成像，根据雷达扫描周期划分主辅图像；选取PS点，以PS点的形变量来代表整个目标区域的形变状态；然后以PS点到图像原点的距离为基准，结合每个脉冲信号对应的雷达瞬时坐标，在所有经过距离压缩的脉冲信号中提取对应PS点的相位信息，计算相位均值以消除发射信号的初相误差；最后，针对同一个PS点，计算两次监测处理结果的相位差，得到真实形变量。本发明降低了发射信号初相随机波动产生的误差，并且简化了传统的解算方法，计算效率和计算精度均得到了提升。
本发明授权一种基于初相误差消除的InSAR亚毫米级高精度形变量检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于初相误差消除的InSAR亚毫米级高精度形变量检测方法，其特征在于：包括以下步骤： 使用毫米波雷达设备对目标区域进行监测扫描，并分别获得两次SAR图像； 选取至少一个PS点，以PS点的形变量来代表整个目标区域的形变状态； 将PS点到图像原点的距离映射为回波信号的相位索引，筛选出对应位置相位； 对筛选出的相位进行平均处理，以两次测试数据的平均相位之差作为干涉相位；所述平均处理采用截尾均值方法，以FFT幅值为截尾标准； 根据干涉相位计算PS点的形变量。
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