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龙图腾网获悉中国科学院上海高等研究院申请的专利同步辐射微聚焦实验装置的校准方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120102605B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510291432.0，技术领域涉及：G01N23/04；该发明授权同步辐射微聚焦实验装置的校准方法是由闫帅;曹萌;贾洋刚;徐真;蒋晖;何燕;李爱国设计研发完成，并于2025-03-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本同步辐射微聚焦实验装置的校准方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种同步辐射微聚焦实验装置的校准方法，其包括：移除滤光装置，在反射装置的下游放置荧光片，并打开X射线光源，使X射线依次经过聚焦装置和反射装置后照射在荧光片上；确定显微镜的放大中心；调整显微镜的位置，以使X光位置与显微镜的放大中心重合；关闭X射线光源，并将滤光装置安装至反射装置上，打开可见光光源；调整滤光孔的X向位置和Y向位置，以使荧光片上的可见光移动至显微镜的放大中心；关闭可见光光源，并打开X射线光源，通过微调滤光孔的位置使荧光片上的X光形状不受遮挡。本发明的同步辐射微聚焦实验装置的校准方法，可使滤光孔与显微镜的放大中心重合，保证图像的清晰度和放大效果。

本发明授权同步辐射微聚焦实验装置的校准方法在权利要求书中公布了：1.一种同步辐射微聚焦实验装置的校准方法，其特征在于，所述同步辐射微聚焦实验装置包括聚焦装置、滤光装置、反射装置和显微镜，所述聚焦装置、所述滤光装置和所述反射装置沿与Z向平行的第一轴线依次设置，所述显微镜沿Y向偏离所述第一轴线，且所述显微镜的光轴与Y向平行，所述反射装置固定在所述显微镜的镜头处，所述滤光装置可拆卸固定在所述反射装置上，所述滤光装置具有滤光孔，且所述滤光孔相对于所述显微镜的位置可调；所述校准方法包括以下步骤： S1000：将所述滤光装置从所述反射装置上移除，在所述反射装置的下游放置荧光片，并打开X射线光源，使所述X射线光源发出的X射线依次经过所述聚焦装置和所述反射装置后照射在所述荧光片上； S2000：通过调整所述显微镜的X向位置、Y向位置和改变所述显微镜的放大倍数确定所述显微镜的放大中心； S3000：调整所述显微镜的位置，以使X光位置与所述显微镜的放大中心重合； S4000：关闭所述X射线光源，并将所述滤光装置安装至所述反射装置上，然后打开可见光光源，使所述可见光光源发出可见光； S5000：调整所述滤光装置的滤光孔的X向位置和Y向位置，以使所述可见光可穿过所述滤光孔和所述反射装置而照射在所述荧光片上，并使所述荧光片上的可见光移动至所述显微镜的放大中心； S6000：关闭所述可见光光源，并打开所述X射线光源，判断所述显微镜观察到的荧光片上的X光形状是否受到遮挡，若是，则通过微调所述滤光孔的位置使荧光片上的X光形状不受遮挡； 步骤S2000具体包括以下步骤： S2100：使所述显微镜多次进行沿X向和Y向的运动，以使所述显微镜位于多个不同位置； S2200：在所述显微镜处于每个位置时，获取所述显微镜在不同放大倍数下的图像和X光位置的像素坐标； S2300：在同一个直角坐标系下，对所述显微镜在每个位置时的不同放大倍数下的X光位置的像素坐标进行拟合，得到该位置的拟合直线； S2400：根据各拟合直线确定所述显微镜的放大中心。

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