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龙图腾网获悉天津普智芯网络测控技术有限公司申请的专利通断测试接口板、通道对应关系自动生成方法及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120254571B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510702773.2，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权通断测试接口板、通道对应关系自动生成方法及存储介质是由屈粮富;张大伟;薛良设计研发完成，并于2025-05-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本通断测试接口板、通道对应关系自动生成方法及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种通断测试接口板、通道对应关系自动生成方法及存储介质，包括测试接口板上设置有中心相同的若干正方形测试区域，正方形测试区域沿着测试接口板的对角线自内向外等比例增加，每个所述正方形测试区域外侧连接有相同数量的焊盘，焊盘等间隔均匀分布，焊盘的另一端设置在所述测试接口板外，其中内侧的正方形测试区域所连接的焊盘穿设于其外侧的正方形测试区域，且位于外侧的正方形测试区域所连接的焊盘之间；通过将焊盘进行特别的布局，实现测试接口板兼容各类型、各规格型号的待测试芯片，同时通过焊盘与通道的对应关系，提升芯片测试整体的效率，保证复杂封装测试的准确性，增强自动化测试程度。

本发明授权通断测试接口板、通道对应关系自动生成方法及存储介质在权利要求书中公布了：1.通道对应关系自动生成方法，其特征在于，采用通断测试接口板，所述测试接口板上设置有中心相同的若干正方形测试区域，所述正方形测试区域沿着测试接口板的对角线自内向外等比例增加，每个所述正方形测试区域外侧连接有相同数量的焊盘，所述焊盘等间隔均匀分布，所述焊盘的另一端设置在所述测试接口板外，其中内侧的正方形测试区域所连接的焊盘穿设于其外侧的正方形测试区域，内侧的正方形测试区域连接的焊盘位于外侧的正方形测试区域所连接的焊盘之间； 步骤包括： 将待测试芯片放置在所述测试接口板上，使待测试芯片的引脚与所述焊盘电性连接，所述焊盘通过通道与测试机电性连接，通道与测试机之间还连接有矩阵开关电路； 测试机开启测试，同时依据焊盘的坐标匹配，自动关联测试芯片引脚与测试通道关系； 获取待测试芯片的封装参数后，生成通道关系映射表； 当待测芯片的引脚数量小于测试接口板的最大连接尺寸时，将待测芯片的引脚坐标转换为LoadBoard坐标系： X LoadBoard=XMinPackage+ΔX Y LoadBoard=YMinPackage+ΔY， 其中ΔX和ΔY为待测芯片在测试接口板的X轴和Y轴的方向偏移量，XMinPackage和YMinPackage为待测试接口板在X轴和Y轴的方向的基量。

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