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龙图腾网获悉苏州联讯仪器股份有限公司申请的专利一种老化测试夹具及老化测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120314753B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510468544.9，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种老化测试夹具及老化测试系统是由吴从设计研发完成，并于2025-04-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种老化测试夹具及老化测试系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种老化测试夹具及老化测试系统，涉及芯片测试技术领域。本发明中母抽屉插接在测试箱体内，母抽屉的第一PCB板与测试箱体内的驱动板装置连接，第二PCB板与第一PCB板连接，且与探针板连接。子抽屉包括安装板，安装板上设有用于放置被测芯片的至少一个安装位。第二PCB板设置成在作用力下相对于第一PCB板浮动，从而带动探针板上的测试探针与被测芯片接触。上述技术方案相当于将现有技术中的整体抽屉拆分成母抽屉和子抽屉，母抽屉可以一直插接在测试箱体内，不需要流转，只需要对子抽屉进行流转，减小了流转过程中的所占空间，且重量较轻。另外，在流转时不需要像现有技术中将PCB板和探针板拆卸，可以直接替换被测芯片，从而提高了测试效率。

本发明授权一种老化测试夹具及老化测试系统在权利要求书中公布了：1.一种老化测试夹具，其特征在于，包括： 子抽屉，包括至少一个安装板，每个所述安装板上设有用于放置被测芯片的至少一个安装位； 母抽屉，插接在测试箱体内，所述母抽屉的内部形成有第一插接空间，所述子抽屉插接在所述第一插接空间内，所述母抽屉包括第一PCB板、至少一个第二PCB板和至少一个探针板；所述第一PCB板与所述测试箱体内的驱动板装置连接，所述探针板具有多个测试探针，且与对应的所述第一PCB板连接； 每个所述第二PCB板与所述第一PCB板电连接，且设置成在外界作用力下相对于所述第一PCB板浮动，以带动所述测试探针与对应的所述安装位上的所述被测芯片接触，从而对所述被测芯片进行功能性测试； 所述母抽屉还包括： 至少一个第一浮动机构，每个所述第一浮动机构包括第一浮动板和多个第一弹性组件，所述第一浮动板与所述第二PCB板连接，每个所述第一弹性组件的一端与所述第一浮动板连接，以使得所述第一浮动板在外界作用力下能够浮动，从而带动所述探针板浮动； 所述子抽屉还包括： 至少一个第二浮动机构，每个所述第二浮动机构包括多个第二浮动板和多个第二弹性件，所述安装板搭接在所述第二浮动板上，多个所述第二浮动板分别设置在限位槽内，每个所述第二弹性件的一端与所述第二浮动板连接或卡接，另一端与所述限位槽的底壁连接或抵接，从而在所述安装板受到外界作用力时，使得所述第二浮动板在所述限位槽内浮动。

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