武汉工程大学郑朝晖获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉工程大学申请的专利基于局部计数投影的图像纹理特征提取方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120747529B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511134151.0，技术领域涉及：G06V10/40；该发明授权基于局部计数投影的图像纹理特征提取方法是由郑朝晖设计研发完成，并于2025-08-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于局部计数投影的图像纹理特征提取方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于局部计数投影的图像纹理特征提取方法，涉及图像处理技术领域，基于局部计数投影的图像纹理特征提取方法主要包括：对待测图像进行灰度化预处理得到灰度图像，利用5×5矩形星状结构进行灰度差计算和二值化统计得到局部计数统计，利用哈密顿算子得到哈密顿统计，利用统计直方图得到待测图像的局部计数‑哈密顿纹理特征。实施本发明提供的基于局部计数投影的图像纹理特征提取方法，能提取图像局部纹理结构和差异信息。
本发明授权基于局部计数投影的图像纹理特征提取方法在权利要求书中公布了：1.一种基于局部计数投影的图像纹理特征提取方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：对待测图像进行灰度化预处理得到灰度图像； S2：根据所述灰度图像，利用5×5矩形星状结构进行灰度差计算和二值化统计，得到局部计数统计； S3：根据所述灰度图像，利用5×5矩形星状结构、3×3矩形结构和哈密顿算子，得到哈密顿统计； S4：根据所述局部计数统计和所述哈密顿统计，利用统计直方图，得到待测图像的局部计数-哈密顿纹理特征； 步骤S2具体包括： S21：根据所述灰度图像，利用5×5矩形星状结构，得到灰度差对； S22：对所述灰度差对进行大小比较和二值化，得到二值化的灰度差对； S23：对所述二值化的灰度差对进行统计，得到局部计数统计； 步骤S3具体包括： S31：根据所述灰度图像，以5×5矩形星状结构的中心像素的相邻像素点为中心，构建8个3×3矩形结构，对每个3×3矩形结构利用哈密顿算子求解向量场散度； S32：根据所述向量场散度，得到像素点灰度变化趋势； S33：根据所述像素点灰度变化趋势得到哈密顿统计。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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