苏州大学许峰获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州大学申请的专利基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法及检测设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120761005B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511256135.9,技术领域涉及:G01M11/02;该发明授权基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法及检测设备是由许峰;陆正阳;杨浩;孙倜;曹冰设计研发完成,并于2025-09-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法及检测设备在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法及检测设备,方法包括:设置相机,并调节至对焦于微透镜阵列,浮动调节相机与阵列之间的光轴距离,在多个调节后的位置处采集星点光斑图像及珀罗板线对板图像;根据多个光斑图像中对应同一个子透镜的光斑子图像,以确定焦面坐标并进行相应PSF重构;选择一对光板图像和线对板图像,利用维纳滤波算法对图像中对应该子透镜的子图作恢复处理;将恢复后的图像与重构的PSF函数进行卷积运算,以得到焦面坐标对应的重构线对板图像;根据平行光管的焦距、珀罗板的实际线距、由重构线对板图像确定的线距来计算该子透镜的焦距。通过移像式采集焦点附近的阵列图像,并行检测多个子透镜的焦距。
本发明授权基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法及检测设备在权利要求书中公布了:1.一种基于移像拟合法的微透镜阵列焦距检测方法,所述微透镜阵列包括多个子透镜,其特征在于,所述焦距检测方法包括以下步骤: 设置图像采集装置,并将所述图像采集装置调节至对焦于微透镜阵列,确定此时的位置为基准位置; 以基准位置为原点调节所述图像采集装置与微透镜阵列之间的光轴距离,并在多个调节后的位置处分别采集阵列图像,所述阵列图像包括平行光管内的星点经过微透镜阵列后所成的第一图像以及平行光管内的珀罗板经过微透镜阵列后所成的第二图像; 确定多个第一图像中对应同一个子透镜的光斑子图像为目标子图像集合,对其进行PSF重构,包括:基于该集合的多个光斑子图像中光斑的大小与光轴位置,通过拟合算法确定最小光斑对应的光轴位置,定义为焦面坐标Zt;获取该集合的各个光斑子图像中经过光斑中心点的线条所在的像素灰度值,进而拟合得到各个光斑子图像对应的高斯曲线,所述高斯曲线包含高斯曲线参数;通过拟合算法确定所述焦面坐标Zt对应的高斯曲线参数,以重构得到该子透镜的PSF函数; 选择在同一位置采集到的第一图像和第二图像,利用维纳滤波算法对该第一图像和第二图像中对应该子透镜的子图作恢复处理,得到恢复后的图像,记作Irex,y;将恢复后的图像Irex,y与PSF函数进行卷积运算,以重构得到焦面坐标Zt对应的重构线对板图像; 通过以下公式计算该子透镜的焦距f:f=fc×y’y0,其中,fc表示平行光管的焦距,y’表示基于所述重构线对板图像确定的线距,y0表示珀罗板的实际线距。
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