江苏泛腾电子科技有限公司殷科军获国家专利权
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龙图腾网获悉江苏泛腾电子科技有限公司申请的专利一种基于老化测试的芯片测试设备及方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120761828B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511274993.6,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权一种基于老化测试的芯片测试设备及方法是由殷科军设计研发完成,并于2025-09-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于老化测试的芯片测试设备及方法在说明书摘要公布了:本发明涉及检测设备技术领域,尤其涉及一种基于老化测试的芯片测试设备及方法;本发明的一种基于老化测试的芯片测试设备,包括:机体、测试板和测试座;芯片封装在所述测试座内;所述机体内设置有温控模块;所述温控模块能够对机体内进行加热和保温;所述测试板上设置有接口;所述测试座通过所述接口与所述测试板相连接;本发明通过在机体内设置竖直移动块、横向移动块和纵向移动块带着安装块和电动夹具移动,再通过电动夹具夹持住测试座,将测试座从测试板上拔出,随后将旧的测试座放置在取放台上,夹持住新的测试座,再将新的测试座安装到测试板上的接口上,从而完成在测试过程中,更换不合格的芯片。
本发明授权一种基于老化测试的芯片测试设备及方法在权利要求书中公布了:1.一种基于老化测试的芯片测试设备,其特征在于:包括: 机体1、测试板2和测试座3;芯片封装在所述测试座3内;所述机体1内设置有温控模块;所述温控模块能够对机体1内进行加热和保温;所述测试板2上设置有接口21;所述测试座3通过所述接口21与所述测试板2相连接;所述测试座3上安装有卡扣31,与所述测试板2上的接口21相卡合; 所述机体1上开设有取放通道11;所述机体1外侧位于所述取放通道11部位设置封闭门;所述取放通道11内转动连接有取放台13; 所述机体1内设置有更换机构;所述更换机构能够取下所述测试板2上的所述测试座3;与所述取放通道11内的测试座3进行更换。
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