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龙图腾网获悉威凯检测技术有限公司;中国电器科学研究院股份有限公司申请的专利一种存储容量欺诈检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120780572B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511237408.5，技术领域涉及：G06F11/34；该发明授权一种存储容量欺诈检测方法是由彭业顺;徐振飞;刘诗蔚;叶扬韬;蒙智强;陈华文设计研发完成，并于2025-09-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种存储容量欺诈检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种存储容量欺诈检测方法，通过步骤S1‑1A至步骤S1‑4A，能够识别被检测存储介质的数据分布异常，弥补现有技术中单一物理层验证的缺陷，有效提高对软件扩容欺骗的识别率，经试验，软件扩容欺骗识别率提升至99.7%。通过步骤S1‑1B至步骤S1‑3B，能够量化温度对被检测存储介质的影响，识别低温下的容量缩水风险，避免环境导致对存储容量欺诈的误判。通过步骤S2‑1C至步骤S2‑2C，能够检测被检测存储介质是否存在文件系统兼容性欺诈问题。通过步骤S2‑1D至步骤S2‑4D，能够按照0%至38%、38%至62%、62%至100%的分割比例，分别对被检测存储介质划分得出的三个测试区域进行三种验证测试，该分割比例能覆盖98%的存储异常点，并减少冗余测试，测试效率提升82%。

本发明授权一种存储容量欺诈检测方法在权利要求书中公布了：1.一种存储容量欺诈检测方法，其特征在于，包括： 步骤S1、对被检测存储介质进行应用层测试，包含：软件扩容欺骗测试； 所述软件扩容欺骗测试包括： 步骤S1-1A、生成预设标准样本量的数据样本，并写入被检测存储介质； 步骤S1-2A、计算被检测存储介质中数据样本的信息熵，得到的熵值记为S； 步骤S1-3A、如果S＜6.0，则判定所述被检测存储介质存在软件扩容欺骗问题；如果S＞7.9，则判定所述被检测存储介质不存在软件扩容欺骗问题； 步骤S1-4A、如果6.0≤S≤7.9，则按照预设标准样本量，分别生成内容为全1、全0、随机和混合模式的四个验证数据样本，并分别写入清空的被检测存储介质，以分别计算该四个验证数据样本在被检测存储介质中的信息熵，得到的熵值依次记为H全1、H全0、H随机和H混合；其中，所述混合模式为0x55AA交替的周期性数据模式； 如果＞0.3，则判定所述被检测存储介质存在软件扩容欺骗问题；如果≤0.3，则判定所述被检测存储介质不存在软件扩容欺骗问题； 其中，=maxH全1，H全0，H随机，H混合-minH全1，H全0，H随机，H混合。

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