苏州元脑智能科技有限公司孙明刚获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州元脑智能科技有限公司申请的专利内存测试方法、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120823873B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511315961.6，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权内存测试方法、电子设备及存储介质是由孙明刚;刘清林;刘涛设计研发完成，并于2025-09-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本内存测试方法、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种内存测试方法、电子设备及存储介质，涉及存储技术领域，可以根据用户指定的测试参数，灵活地在不同负载级别下运行压力线程和延迟测试线程，不仅能够同时且准确反映特定非统一内存访问内存节点或中央处理器上的内存延迟和带宽，还能通过迭代测试控制，依次遍历不同负载级别，全面评估内存性能。如此，能够更真实地模拟实际负载场景，在一定程度上避免了因压力线程无法精确绑定而导致的测量干扰，提高了内存延迟的准确性。
本发明授权内存测试方法、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种内存测试方法，其特征在于，所述方法包括： 响应测试参数，基于所述测试参数确定目标非统一内存访问内存节点、当前负载级别对应的至少一个压力线程标识、至少一个压力线程标识与第一中央处理器标识之间的映射关系以及用于绑定延迟测试线程的第二中央处理器标识； 基于所述当前负载级别对应的至少一个压力线程标识和所述映射关系将至少一个压力线程绑定至相应的第一中央处理器上运行，并控制所述第一中央处理器基于所述压力线程访问相应的第一内存缓冲区，以测量至少一个所述压力线程的带宽，并基于至少一个所述压力线程的带宽确定所述当前负载级别对应的目标带宽，其中，所述压力线程分别与所述第一中央处理器和所述第一内存缓冲区一一对应； 在所述目标带宽处于预设带宽范围内的情况下，基于所述第二中央处理器标识将所述延迟测试线程绑定至第二中央处理器上运行，并控制所述第二中央处理器基于所述延迟测试线程访问第二内存缓冲区，以测量所述当前负载级别对应的目标非统一内存访问内存节点的访问延迟时间； 其中，所述第一内存缓冲区和所述第二内存缓冲区均处于所述目标非统一内存访问内存节点。
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