株式会社尼康八嶋紘宽获国家专利权
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龙图腾网获悉株式会社尼康申请的专利测量处理装置、X射线检查装置、测量处理方法、测量处理程序及结构物的制造方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN107407646B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201580077303.6，技术领域涉及：G01N23/04；该发明授权测量处理装置、X射线检查装置、测量处理方法、测量处理程序及结构物的制造方法是由八嶋紘宽;早野史伦;河井章利设计研发完成，并于2015-03-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本测量处理装置、X射线检查装置、测量处理方法、测量处理程序及结构物的制造方法在说明书摘要公布了：一种用于X射线检查装置的测量处理装置，具备：区域信息获得部，其获得基于透射第一被测量物的一部分即第一区域的X射线的第一区域信息；存储部，其存储比第一区域大的、与第二被测量物的第二区域有关的第二区域信息；判断部，其基于第一区域信息和第二区域信息，判断与第一区域对应的区域是否包括在第二区域中。
本发明授权测量处理装置、X射线检查装置、测量处理方法、测量处理程序及结构物的制造方法在权利要求书中公布了：1.一种测量处理装置，用于X射线检查装置，具备： 存储部，其存储与包含被测量物的检查对象区域且比所述检查对象区域大的设定区域对应的设定区域信息； 区域信息获得部，其基于透射被测量物的一部分区域的X射线获得与所述一部分区域有关的区域信息； 判断部，其根据所述区域信息和所述设定区域信息，判断所述一部分区域是否与所述检查对象区域对应；及 位置差计算部，其在所述判断部判断所述一部分区域不与所述检查对象区域对应时，基于所述区域信息和所述设定区域信息计算所述一部分区域和所述检查对象区域的位置的差， 所述区域信息获得部基于透射所述被测量物的已变化的一部分区域的X射线，获得相关于所述被测量物的所述已变化的一部分区域的区域信息，其中，所述被测量物的位置已按照使得所述已变化的一部分区域和所述检查对象区域的位置的差为零的方式而被修正。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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