三星电子株式会社朴正镐获国家专利权
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龙图腾网获悉三星电子株式会社申请的专利用于制造半导体封装件的方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN113270329B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110046610.5,技术领域涉及:H01L21/56;该发明授权用于制造半导体封装件的方法是由朴正镐;朴镇右;李锡贤;张在权;全光宰设计研发完成,并于2021-01-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于制造半导体封装件的方法在说明书摘要公布了:公开了一种用于制造半导体封装件的方法,所述方法包括:在第一载体基底上形成剥离层,其中,剥离层包括第一部分和第二部分,其中,第一部分具有第一厚度,并且第二部分具有比第一厚度厚的第二厚度;在剥离层上形成阻挡层;在阻挡层上形成重新分布层,其中,重新分布层包括布线和绝缘层;将半导体芯片安装在重新分布层上;在重新分布层上形成模制层以至少部分地围绕半导体芯片;将第二载体基底附着到模制层上;去除第一载体基底和剥离层;去除阻挡层;以及将焊球附着到通过去除阻挡层与剥离层的第二部分而暴露的重新分布层上。
本发明授权用于制造半导体封装件的方法在权利要求书中公布了:1.一种用于制造半导体封装件的方法,所述方法包括以下步骤: 在第一载体基底上形成剥离层,其中,剥离层包括第一部分和第二部分,其中,第一部分具有第一厚度,并且第二部分具有比第一厚度厚的第二厚度; 在剥离层上形成阻挡层; 在阻挡层上形成重新分布层,其中,重新分布层包括多条布线和围绕所述多条布线的绝缘层; 将半导体芯片安装在重新分布层上以电连接到重新分布层; 在重新分布层上形成模制层以至少部分地围绕半导体芯片; 将第二载体基底附着到模制层上; 去除第一载体基底和剥离层; 去除阻挡层;以及 将焊球附着到通过去除阻挡层与剥离层的第二部分而暴露的重新分布层上。
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