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浙江宇视科技有限公司曾文彬获国家专利权

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龙图腾网获悉浙江宇视科技有限公司申请的专利测试校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114584755B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202011375666.7,技术领域涉及:H04N17/00;该发明授权测试校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质是由曾文彬;王岩设计研发完成,并于2020-11-30向国家知识产权局提交的专利申请。

测试校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质在说明书摘要公布了:本发明实施例公开了一种测试校准方法、装置、设备以及存储介质,其中该方法,应用于电子设备,所述电子设备包括成像设备,所述方法包括:在所述成像设备中,确定待测设备镜头拍摄的第一图像中心点所在的第一位置;根据测试图上预先设定的至少两个定位块,确定在所述成像设备上显示的第二图像中心点所在的第二位置;根据所述第一位置和所述第二位置,判断所述第一图像中心点和所述第二图像中心点是否重合;当不重合时,根据所述第一位置和所述第二位置确定校准参数。如此,能够保证待测设备镜头光轴中心与Chart图中心对齐的准确性,提升后续测试效果。

本发明授权测试校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质在权利要求书中公布了:1.一种测试校准方法,应用于电子设备,所述电子设备包括成像设备,所述方法包括: 根据测试图上预先设定的至少两个定位块中的至少一个定位块,判断测试图全部内容是否充满成像设备成像全屏;所述至少两个定位块中的至少一个定位块的至少一个边框与所述测试图的长边框和或短边框重合; 当所述测试图全部内容充满成像设备成像全屏时,确定待测设备镜头拍摄的第一图像中心点所在的第一位置; 根据测试图上预先设定的至少两个定位块,确定在所述成像设备上显示的第二图像中心点所在的第二位置; 根据所述第一位置和所述第二位置,判断所述第一图像中心点和所述第二图像中心点是否重合; 当不重合时,根据所述第一位置和所述第二位置确定校准参数; 其中,所述第一图像为所述待测设备镜头拍摄所述测试图得到的图像;所述第二图像为所述测试图全部内容充满所述成像设备成像全屏形成的图像;所述校准参数用于校准所述待测设备镜头的位置,以使得所述测试图中心在所述待测设备镜头光轴上; 所述判断所述测试图全部内容是否充满成像设备成像全屏,包括: 确定所述至少一个定位块中每个定位块的图像特征; 根据每个定位块的图像特征以及预先设定的图像特征阈值,判断在所述成像设备上显示的该定位块是否完整; 当该定位块显示完整且位于所述第二图像的边缘位置时,确定所述测试图的全部内容充满所述成像设备成像全屏。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人浙江宇视科技有限公司,其通讯地址为:310051 浙江省杭州市滨江区西兴街道江陵路88号10幢南座1-11层、2幢A区1-3楼、2幢B区2楼;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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