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龙图腾网获悉上海数明半导体有限公司申请的专利电容型隔离器的键合线失效检测电路、方法及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115128512B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210668297.3，技术领域涉及：G01R31/64；该发明授权电容型隔离器的键合线失效检测电路、方法及电子设备是由邵滨设计研发完成，并于2022-06-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本电容型隔离器的键合线失效检测电路、方法及电子设备在说明书摘要公布了：本发明提供了一种电容型隔离器的键合线失效检测电路、方法及电子设备，通过设置第一检测单元以及第二检测单元分别在对应使能信号的控制下用于在系统输入信号的作用下分别检测电容型隔离器的输出端的输出信号，以判断第一电容器组对应的键合线与第二电容器组对应的键合线是否失效。由于可以交替对第一电容器组对应的键合线与第二电容器组对应的键合线进行检测，因而可以准确地对两根键合线的连接情况进行检测和判断。

本发明授权电容型隔离器的键合线失效检测电路、方法及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种电容型隔离器的键合线失效检测电路，用于对电容型隔离器的封装的键合线进行检测；其中，该电容型隔离器包括发射端芯片、接收端芯片以及差分电容器组，所述差分电容器组包括第一电容器组以及第二电容器组，所述发射端芯片包括第一通路以及第二通路，所述第一通路与所述第二通路用于形成差分信号对，所述差分信号对包括第一差分信号以及第二差分信号，所述第一差分信号与所述第二差分信号分别通过所述第一电容器组与所述第二电容器组传输至所述接收端芯片，其特征在于，该检测电路包括：第一检测单元以及第二检测单元，所述第一检测单元与所述第一通路电性连接，所述第二检测单元与所述第二通路电性连接；所述第一检测单元与所述第二检测单元分别接收第一检测使能信号与第二检测使能信号；其中，所述第一检测单元与所述第二检测单元被配置为： 当所述第一检测使能信号与所述第二检测使能信号均为低电平时，所述电容型隔离器正常工作； 当所述第一检测使能信号与所述第二检测使能信号之一为高电平时，所述电容型隔离器进入测试模式；其中，在所述第一检测使能信号为高电平，且所述第二检测使能信号为低电平的情况下，所述电容型隔离器的输出端的输出信号用于判断所述第一电容器组对应的键合线是否失效；在所述第二检测使能信号为高电平，且所述第一检测使能信号为低电平的情况下，所述电容型隔离器的输出端的输出信号用于判断所述第二电容器组对应的键合线是否失效。

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