格科微电子(上海)有限公司刘云龙获国家专利权
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龙图腾网获悉格科微电子(上海)有限公司申请的专利晶圆测试设备的接线检查方法及装置、晶圆测试设备及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115201720B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110377255.X，技术领域涉及：G01R31/68；该发明授权晶圆测试设备的接线检查方法及装置、晶圆测试设备及系统是由刘云龙;吴瑞雪;樊兴旺设计研发完成，并于2021-04-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本晶圆测试设备的接线检查方法及装置、晶圆测试设备及系统在说明书摘要公布了：一种晶圆测试设备的接线检查方法及装置、存储介质、晶圆测试设备及系统，所述方法包括：检测与所述晶圆测试设备连接的连接器的各个空闲引脚的接地状态，其中，用于测试不同待测芯片的连接器具有不同的预设引脚接地状态；比较检测到的接地状态与当前待测芯片对应的预设引脚接地状态是否相同，如果是，则判断所述连接器与所述晶圆测试设备之间的接线正确，否则，判断所述连接器与所述晶圆测试设备之间的接线错误。通过本发明的方案，可以高效、准确地判断判断晶圆测试设备与连接器之间的接线是否正确。
本发明授权晶圆测试设备的接线检查方法及装置、晶圆测试设备及系统在权利要求书中公布了：1.一种晶圆测试设备的接线检查方法，其特征在于，所述晶圆测试设备同时与多个连接器连接，所述方法包括： 检测与所述晶圆测试设备连接的连接器的各个空闲引脚的接地状态，其中，用于测试不同待测芯片的连接器的各个空闲引脚具有不同的预设引脚接地状态，用于测试不同待测芯片的连接器的各个空闲引脚相同； 比较检测到的接地状态与当前待测芯片对应的预设引脚接地状态是否相同，如果是，则判断所述连接器与所述晶圆测试设备之间的接线正确，否则，判断所述连接器与所述晶圆测试设备之间的接线错误； 其中，检测到的各个空闲引脚的接地状态记录于测试编码中，各个空闲引脚的预设引脚接地状态预先记录于预设编码中。
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