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龙图腾网获悉中国科学院光电技术研究所申请的专利一种基于主成分分析的色散条纹粗共相方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115293251B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210907359.1，技术领域涉及：G06F18/2135；该发明授权一种基于主成分分析的色散条纹粗共相方法是由张永峰;王胜千;鲜浩;饶长辉设计研发完成，并于2022-07-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于主成分分析的色散条纹粗共相方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于主成分分析的色散条纹粗共相方法，可用于拼接式或合成孔径望远镜共相误差粗校正，包括：1采集宽带点源色散条纹；2截取部分色散条纹，执行色散条纹主成分分析算法，输出相应的拟合斜率和拟合残差；3重复步骤2多次，得到一组拟合斜率和拟合残差；4采用异常数据剔除算法，对拟合残差进行筛选，记录符合要求的拟合残差对应的拟合斜率；5根据剩余合格的拟合斜率，计算共相误差测量值，并施加校正；6重复步骤1‑5，直至满足终止条件后，退出粗校正过程。本发明方法免标定宽带光源非均匀谱及相关的特征常数，可鲁棒、快速地实现共相误差的粗校正，极大提高了色散条纹共相方法的实用性。

本发明授权一种基于主成分分析的色散条纹粗共相方法在权利要求书中公布了：1.一种基于主成分分析的色散条纹粗共相方法，其特征在于：所述方法利用主成分分析技术，从采集的色散条纹解算共相误差，且包括以下步骤： 步骤1：采集宽带点源色散条纹； 步骤2：截取部分色散条纹，使用色散条纹主成分分析方法，得到相应的拟合斜率和拟合残差； 步骤3：重复步骤2多次，得到一组拟合斜率和拟合残差； 步骤4：采用异常数据剔除方法，对拟合残差进行筛选，记录符合要求的拟合残差对应的拟合斜率； 步骤5：根据所述的符合要求的拟合残差对应的拟合斜率，计算共相误差测量值，并施加校正； 步骤6：重复步骤1-5，直至满足终止条件后，退出粗校正过程； 步骤2.1：将截取的有效色散条纹记为有效色散条纹矩阵，其中为某一干涉位置处沿色散方向的光强分布列向量，同时记录该有效色散条纹对应的波长区间； 步骤2.2：计算有效色散条纹矩阵每行对应的均值，得到一维向量；从有效色散条纹矩阵的每列中均减去，得到差值矩阵； 步骤2.3：对差值矩阵执行奇异值分解，得到，其中、为正交矩阵，对角矩阵与差值矩阵等秩； 步骤2.4：利用所述矩阵对差值矩阵执行正交变换，得到主成分矩阵，此时主成分矩阵中的各个列向量即为差值矩阵的主成分； 步骤2.5：利用所述对角矩阵中两个显著大奇异值在主成分矩阵中对应的主成分，计算一维包裹主相位分布 步骤2.6：对一维包裹主相位分布解包裹，得到一维连续主相位分布 步骤2.7：将一维连续主相位分布拟合为关于相应波数范围的线性函数，记录拟合斜率及拟合残差。

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