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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利CMOS图像传感器高速LVDS数据的高可靠性位校正方法和装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115567792B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211162294.9，技术领域涉及：H04N25/78；该发明授权CMOS图像传感器高速LVDS数据的高可靠性位校正方法和装置是由何家维;何昕;魏仲慧;穆治亚;王军;张磊设计研发完成，并于2022-09-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本CMOS图像传感器高速LVDS数据的高可靠性位校正方法和装置在说明书摘要公布了：本申请涉及图像校正领域，具体涉及一种CMOS图像传感器高速LVDS数据的高可靠性位校正方法和装置，所述方法包括以下步骤：通过更改延时调整模块的tap延时值调整环绕延时单元的延时，以改变数据眼图中采样位置，在tap延时分辨率确定的前提下，一个完整的数据眼图周期可以等效用tap延时值的数量描述；对tap延时值数据进行比较，发现数据前后变化即可判定为当前采样位置在眼图过渡区；找到眼图过渡区后，通过设置检测窗口来寻找过渡区到稳定区的边界；调整tap延时值使采样位置位于稳定区后，继续找到稳定区之后的过渡区边界；计算眼图稳定区中心采样位置，完成校正。本申请的方法在相对较短的位校正时间内获取准确位校正结果，可靠性高。

本发明授权CMOS图像传感器高速LVDS数据的高可靠性位校正方法和装置在权利要求书中公布了：1.一种CMOS图像传感器高速LVDS数据的高可靠性位校正方法，其特征在于，包括以下步骤： 通过更改延时调整模块的tap延时值调整环绕延时单元的延时，以改变数据眼图中的采样位置，在tap延时分辨率确定的前提下，一个完整的数据眼图周期等效用tap延时值的数量描述； 对tap延时值数据进行比较，发现数据前后变化即可判定为当前采样位置在眼图过渡区； 找到眼图过渡区后，通过设置检测窗口来寻找过渡区到稳定区的边界； 调整tap延时值使采样位置位于稳定区后，继续找到稳定区之后的过渡区边界； 计算眼图稳定区中心采样位置，完成校正； 所述找到眼图过渡区后，通过设置检测窗口来寻找过渡区到稳定区的边界的具体步骤为： 采用M次tap延时值组成一个采样检测窗口来寻找过渡区到稳定区的边界， 设数据眼图稳定区的最小时间宽度等效为K个tap延时值，“气泡”暂稳区的最大时间宽度等效为P个tap延时值，将检测窗口设为M个tap延时值进行采样，由M个tap延时组成的检测窗口等效时间宽度应满足： P+1*tap＜M*tap＜K-1*tap； 上式中，1＜P＜K且P+5＜K，P、K均为整数； 比较M次采样的数据，当检测窗口内M个位置的采样数据都相等时，认为此时进入到数据眼图稳定区，而从过渡区到稳定区的边界实际tap延时值是存入Tap_reg1寄存器的当前tap延时值减去M； 其中，所述“气泡”暂稳区为所述眼图过渡区的内部数据不是一直在随机变化的部分，该部分同一tap延时值多次采样数据不变。

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