超聚变数字技术有限公司卫博获国家专利权
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龙图腾网获悉超聚变数字技术有限公司申请的专利一种内存测试的方法、装置和计算机设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115599611B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211171891.8,技术领域涉及:G06F11/22;该发明授权一种内存测试的方法、装置和计算机设备是由卫博设计研发完成,并于2022-09-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种内存测试的方法、装置和计算机设备在说明书摘要公布了:本申请提供一种内存测试的方法,应用于处理器,所述方法包括:确定被测试的内存的中断点的第一虚拟地址;根据所述中断点的第一虚拟地址解析到所述中断点的物理地址;将所述中断点的物理地址保存到第三方存储器;在续测的情况下,从所述第三方存储器读取所述中断点的物理地址;根据所述中断点的物理地址映射得到第二虚拟地址;从所述第二虚拟地址开始测试,完成所述内存的测试。本申请在测试过程中实时保存测试进度,下电又再次上电后仍然能获取上一次的内存测试进度,以实现内存续测。面对内存多条并行测试,每根内存的测试进度不一致的情况下,实现内存断点续测避免了因测试进度清空导致的无故障的内存二次测试造成的资源浪费以及测试效率低下。
本发明授权一种内存测试的方法、装置和计算机设备在权利要求书中公布了:1.一种内存测试的方法,应用于处理器,其特征在于,所述方法包括: 确定被测试的内存的中断点的第一虚拟地址; 根据所述中断点的第一虚拟地址解析到所述中断点的物理地址; 将所述中断点的物理地址保存到第三方存储器; 在续测的情况下,从所述第三方存储器读取所述中断点的物理地址; 根据所述中断点的物理地址映射得到第二虚拟地址; 从所述第二虚拟地址开始测试,完成所述内存的测试。
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