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龙图腾网获悉深圳职业技术学院申请的专利一种超声显微成像的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115876884B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211611863.3，技术领域涉及：G01N29/06；该发明授权一种超声显微成像的方法是由陈丹;龚涛;陈伟;郭师峰;王文斌;张亮;任雨;李银设计研发完成，并于2022-12-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种超声显微成像的方法在说明书摘要公布了：本发明涉及超声显微成像技术领域，特别涉及一种超声显微成像的方法。其中，该方法利用聚焦超声换能器产生的瑞利波进行盲区内缺陷检测，并将瑞利波转换得到的反射纵波与界面反射纵波进行干涉，最终对超声波信号的幅值进行叠加，得到反映缺陷真实尺寸和形貌信息的高分辨率、高对比度扫描图像。该方法适用于反射模式的高频超声显微成像检测系统，能够实现材料或结构盲区内缺陷的成像检测，有效弥补传统超声显微成像系统在检测盲区内缺陷时存在成像对比度差，缺陷定量困难等问题。

本发明授权一种超声显微成像的方法在权利要求书中公布了：1.一种超声显微成像的方法，其特征在于，应用于超声显微成像系统，所述系统包括设置于耦合剂中的聚焦超声换能器和被测试样，所述聚焦超声换能器设置于所述被测试样的正上方，所述聚焦超声换能器包括声透镜和设置于所述声透镜内的压电晶片，所述方法包括： 步骤S1、基于所述压电晶片发出的超声纵波在所述声透镜和所述耦合剂中传播的纵波声速以及所述超声纵波在所述被测试样中传播的横波声速，确定所述声透镜的曲率半径和所述压电晶片的直径，以使所述超声纵波在所述被测试样的表面激发产生瑞利波； 步骤S2、激发所述聚焦超声换能器并调节所述聚焦超声换能器的高度，使所述被测试样位于所述聚焦超声换能器的负散焦区； 步骤S3、保持所述聚焦超声换能器的高度不变，并使所述聚焦超声换能器沿水平方向对所述被测试样进行扫描，以采集所述被测试样在不同位置处的超声波信号；其中，所述超声波信号是界面波信号和由瑞利波转换得到的纵波反射信号相干涉的信号，所述界面波信号是由所述压电晶片发出的超声纵波经所述被测试样表面反射产生的信号； 步骤S4、针对每个位置处的所述超声波信号，基于当前超声波信号中开始出现由瑞利波转换得到的纵波反射信号时的目标时刻，得到带有干涉圆环的扫描图像；其中，所述干涉圆环的中心为所述被测试样盲区内缺陷所在的位置，所述目标时刻用于确定所述扫描图像的像素值； 步骤S5、针对所述被测试样盲区内缺陷所在的位置，将不同位置处产生的瑞利波传播至所述干涉圆环中心处的信号幅值叠加，得到包含所述盲区内缺陷的真实尺寸和形貌信息的超声图像； 采用如下公式确定所述声透镜的曲率半径和所述压电晶片的直径： 式中，θ1和θ2分别代表所述压电晶片发出的超声纵波相对于所述声透镜凹面的入射角和所述超声纵波从所述声透镜表面透射后的折射角，θc代表所述被测试样表面的第二临界角，D、R分别代表所述压电晶片的直径和所述声透镜的曲率半径，cL1、cL2分别代表所述超声纵波在所述声透镜和所述耦合剂中传播的纵波声速，cS3代表所述超声纵波在所述被测试样中传播的横波声速； 采用如下公式得到所述干涉圆环中心处的所有信号幅值的加和： 式中，Axi,yi为所述干涉圆环中心处的所有信号幅值的加和，fm,ntb为所述聚焦超声换能器在扫描过程中第m行第n列位置处接收的超声波信号的幅值，tb为第m行第n列位置处发射的瑞利波信号传播至当前位置所需的时间，xj,yj为发出瑞利波的位置，xi,yi为接收瑞利波的位置，xm,n,ym,n为第m行第n列位置，cR为瑞利波在所述被测试样中传播的速度。

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