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龙图腾网获悉杭州国芯科技股份有限公司申请的专利一种芯片启动功能的测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116559626B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310640813.6，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种芯片启动功能的测试方法是由沈建春;应屹航;叶妙兵设计研发完成，并于2023-05-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片启动功能的测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片启动功能的测试方法。本发明方法通过PC机、开发板、Boot程序和继电器实现。PC机设置配置生成模块、Flash烧写模块、继电器控制模块、接收模块和校验模块。Flash烧写模块将配置文件通过写入Flash，继电器控制模块通过继电器控制电源的开关。开发板采用普通开发板，设置电源、Flash、发送模块和待测芯片；电源上电后待测芯片启动Boot程序，通过发送模块将测试结果发送给接收模块。Boot程序通过Flash对应bit和OTP对应bit共同控制。本发明方法测试过程中不需要更换芯片，解决了浪费芯片的问题，并且提高了测试的稳定性；PC机通过继电器控制电源开关，减少了测试时间。

本发明授权一种芯片启动功能的测试方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片启动功能的测试方法，其特征在于：该方法通过PC机、开发板、Boot程序和继电器实现； PC机是待测试芯片对应的运行环境，设置配置生成模块、Flash烧写模块、继电器控制模块、接收模块和校验模块；配置生成模块生成一组芯片启动功能的Flash配置文件，Flash烧写模块连接开发板Flash，将配置文件通过写入Flash；继电器控制模块通过继电器控制电源的开关；接收模块等待开发板的测试结果，校验模块读取测试结果，进行结果校验，并输出验证报告； 开发板是待测芯片的运行环境，设置电源、Flash、发送模块和待测芯片；电源上电后待测芯片启动Boot程序，通过发送模块将测试结果发送给接收模块； 待测芯片的Boot程序，通过Flash对应bit和OTP对应bit共同控制，先判断OTP的对应bit是否为1，如果OTP对应bit为1，则开启测试功能；如果OTP对应bit为0，判断Flash对应的bit是否为1，如果Flash对应的bit为1则开启测试功能，如果为0则不开启测试功能； 电源为待测芯片供电，继电器控制电源的开关； 具体测试流程如下： 步骤1将待测芯片焊接到开发板； 步骤2根据芯片启动功能，配置生成模块生成一个功能的配置文件，存储在PC机； 步骤3PC机读取配置文件，通过Flash烧写模块将配置文件烧写到开发板的Flash上； 步骤4PC机读取Flash烧写模块状态，如果烧写完成，则通过继电器控制模块控制继电器打开电源，开发板上电；如果烧写未完成，则等待； 步骤5开发板上的芯片Boot程序运行； 步骤6Boot程序读取芯片OTP的初始配置文件，初始配置文件内容为0； 步骤7Boot程序读取存储在Flash的配置文件； 步骤8Boot程序读取到的Flash的配置文件如果为1，则执行功能测试；如果为0则结束测试； 步骤9Boot程序通过发送模块将测试结果发送给PC机的接收模块； 步骤10PC机接收模块接收测试结果，PC机通过继电器控制模块控制继电器关闭电源； 步骤11PC机的校验模块读取测试结果，进行结果校验，输出验证报告，完成本次配置文件的功能测试； 步骤12返回步骤2，配置生成模块生成一个新功能的配置文件，重复步骤以上步骤；直至所有功能的配置文件执行完成，生成完整的验证报告。

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