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龙图腾网获悉中国原子能科学研究院申请的专利基于重离子和质子数据预测大气中子SEE错误率的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118050773B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410014470.7，技术领域涉及：G01T3/00；该发明授权基于重离子和质子数据预测大气中子SEE错误率的方法是由韩金华;郭刚;刘建成;陈启明;马旭;殷倩设计研发完成，并于2024-01-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于重离子和质子数据预测大气中子SEE错误率的方法在说明书摘要公布了：本发明涉及基于重离子和质子数据预测大气中子SEE错误率的方法，通过开展重离子SEE试验，获取电子器件的重离子SEE截面；开展质子SEE试验，获取质子SEE截面；模拟得到质子与硅核反应产物的LET谱，结合电子器件的重离子和质子SEE截面，确定等效厚度t′；对中子与硅核反应进行模拟得到中子与硅核反应产物LET谱，结合重离子SEE截面、中子与硅核反应产物LET谱和等效厚度t′对中子SEE截面进行预测；结合大气中子能谱和中子SEE截面对大气中子SEE错误率进行预测。本发明中公开的方法，仅通过实验获得的重离子和质子的SEE截面，即可预测大气中子SEE错误率，并且得到的错误率预测结果比传统方法更为简单可靠。

本发明授权基于重离子和质子数据预测大气中子SEE错误率的方法在权利要求书中公布了：1.基于重离子和质子数据预测大气中子SEE错误率的方法，所述方法包括以下步骤： S1、开展电子器件的重离子SEE试验，获取其重离子SEE截面，并对重离子SEE截面与重离子的LET值之间的关系进行Weibull拟合； S2、开展电子器件的质子SEE试验，选取多种不同能量的质子对电子器件进行辐照，获取电子器件的质子SEE截面； S3、对质子与硅核反应进行蒙特卡罗模拟，得到不同能量质子与硅核反应产物的LET谱； S4、基于电子器件的重离子SEE截面和模拟计算出的不同能量质子与硅核反应产物的LET谱对质子SEE截面进行预测，确定使得预测结果与实验最为吻合的等效厚度t′； S5、对中子与硅核反应进行蒙特卡罗模拟，得到不同中子能量处的中子与硅核反应产物LET谱； S6、基于电子器件的重离子SEE截面、模拟计算出的不同中子能量处的中子与硅核反应产物LET谱和等效厚度t′对中子SEE截面进行预测； S7、结合中子SEE截面和大气中子能谱对大气中子SEE错误率进行预测。

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