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龙图腾网获悉珠海全志科技股份有限公司申请的专利SOC芯片测试方法、装置、设备、存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118409910B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410476872.9，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权SOC芯片测试方法、装置、设备、存储介质是由农凯政;钟汝军;苑鹏;王安设计研发完成，并于2024-04-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本SOC芯片测试方法、装置、设备、存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种SOC芯片测试方法、装置、设备、存储介质，方法包括：待测SOC芯片发送boot成功指令至ATE测试机，ATE测试机将测试命令发给待测SOC芯片；当第一CPU内核接收到测试命令，为各个第二CPU内核分配目标资源；第一CPU内核启动各个第二CPU内核，并控制各个第二CPU内核基于目标资源进行测试，得到子测试结果；第一CPU内核检测各个第二CPU内核的测试状态信息，获取各个子测试结果，将测试状态信息和测试结果发给ATE测试机；ATE测试机基于子测试结果生成目标芯片测试结果。本申请能够实现待测SOC芯片多核同时工作，同一时间并行测试不同的测试项，相比单核测试的方案，提升芯片测试效率。

本发明授权SOC芯片测试方法、装置、设备、存储介质在权利要求书中公布了：1.一种SOC芯片测试方法，其特征在于，应用于SOC芯片测试装置，所述SOC芯片测试装置包括ATE测试机、测试母板和FT测试板，所述测试母板分别与所述ATE测试机和所述FT测试板通信连接，所述FT测试板与待测SOC芯片电连接，所述待测SOC芯片至少包括第一CPU内核和多个第二CPU内核，所述第一CPU内核与各个所述第二CPU内核通信连接，所述方法包括： 所述待测SOC芯片上电后，所述待测SOC芯片通过所述FT测试板和所述测试母板发送boot成功指令至所述ATE测试机，当所述ATE测试机检测到所述boot成功指令，所述ATE测试机通过所述测试母板和所述FT测试板将测试命令发送至所述待测SOC芯片； 当所述待测SOC芯片中的所述第一CPU内核接收到所述测试命令，所述第一CPU内核为各个所述第二CPU内核分配对应的目标资源，各个所述目标资源互不相同并且相互独立，其中，所述目标资源为用于芯片测试的芯片测试资源； 所述第一CPU内核启动各个所述第二CPU内核，并控制各个所述第二CPU内核基于对应的所述目标资源进行芯片测试，得到子测试结果； 所述第一CPU内核检测各个所述第二CPU内核的测试状态信息，获取各个所述子测试结果，并将全部的所述测试状态信息和全部的所述测试结果通过所述FT测试板和所述测试母板发送至所述ATE测试机； 所述ATE测试机基于各个所述子测试结果生成目标芯片测试结果。

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