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龙图腾网获悉深圳市诚芯微科技股份有限公司申请的专利一种用于测试电源芯片的方法、系统、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118534291B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410618625.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种用于测试电源芯片的方法、系统、设备及存储介质是由何刚;娄冬设计研发完成，并于2024-05-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于测试电源芯片的方法、系统、设备及存储介质在说明书摘要公布了：一种用于测试电源芯片的方法、系统、设备及存储介质，涉及芯片测试领域。在该方法中，通过预设生成对抗网络根据电源芯片的第一运行状态数据预测故障类型和故障参数；根据故障类型和故障参数生成目标故障，采集电源芯片的第二运行状态数据，并将第二运行状态数据与第一运行状态数据进行比对；当第二运行状态数据中存在第二目标数据与第一运行状态数据中对应的第一目标数据的目标差值大于阈值时，根据第二目标数据确定预设恢复策略；当电源芯片恢复到预设状态时，采集电源芯片的第三运行状态数据，并根据第三运行状态数据和预设恢复策略的比对结果确定电源芯片的测试结果。实施本申请提供的技术方案，达到了提高测试的效率和准确性的效果。

本发明授权一种用于测试电源芯片的方法、系统、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种用于测试电源芯片的方法，其特征在于，应用于芯片测试平台，所述方法包括： 采集电源芯片的第一运行状态数据，通过预设生成对抗网络根据所述第一运行状态数据预测故障类型和故障参数，所述第一运行状态数据包括运行温度、负载、输出电压和输出电流； 根据所述故障类型和故障参数生成目标故障，采集所述电源芯片的第二运行状态数据，并将所述第二运行状态数据与所述第一运行状态数据进行比对； 当所述第二运行状态数据中存在第二目标数据与所述第一运行状态数据中对应的第一目标数据的目标差值大于阈值时，根据所述第二目标数据确定预设恢复策略，所述第二目标数据为电压、电流或温度，所述第一目标数据为与所述第二目标数据对应的数据； 当所述电源芯片恢复到预设状态时，采集所述电源芯片的第三运行状态数据，并根据所述第三运行状态数据和所述预设恢复策略的比对结果确定所述电源芯片的测试结果， 所述根据所述第二目标数据确定预设恢复策略包括： 使用相似度度量方法计算所述第二目标数据与故障模式库中数据的相似度以匹配故障类型，并根据所述故障类型确定故障参数； 根据所述故障类型和所述故障参数计算预设策略数据库中的恢复策略的匹配值，所述匹配值由恢复策略的恢复时间、恢复成功率、恢复后达到原状态的百分比加权得到，选择第一恢复策略为预设恢复策略，第一恢复策略和第二恢复策略是所述预设策略数据库中任意两个恢复策略，所述第一恢复策略的匹配值大于所述第二恢复策略的匹配值， 所述根据所述第三运行状态数据和所述预设恢复策略的比对结果确定所述电源芯片的测试结果包括： 计算所述预设恢复策略的第一恢复时间与所述第三运行状态数据中的第二恢复时间的第一差值，并计算所述预设恢复策略的恢复后达到原状态的第一百分比与所述第三运行状态数据中的恢复后达到原状态的第二百分比的第二差值，对所述第一差值和所述第二差值进行加权求和以得到比对值； 当所述比对值小于阈值时，确定所述电源芯片为正常状态； 当所述比对值大于或等于阈值时，确定所述电源芯片为异常状态。

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