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龙图腾网获悉航天科工防御技术研究试验中心申请的专利芯片检测方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118707290B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311765506.7，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片检测方法、装置、电子设备及存储介质是由石雪梅;陈波;赵毅强;何家骥;张虹;林冰馨;黄周晨设计研发完成，并于2023-12-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片检测方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本公开提供一种芯片检测方法、装置、电子设备及存储介质。所述方法包括：将多个待测芯片设置在多种环境中，并对多个待测芯片多次输入测试向量集，采集每种环境下每次输入测试向量集过程中每个待测芯片对应的电磁辐射曲线；对每种环境下每次输入测试向量集过程中每个待测芯片对应的多条电磁辐射曲线进行平均处理，得到多种环境下所述多个待测芯片对应的平均电磁辐射曲线；对目标环境下多个待测芯片对应的平均电磁辐射曲线进行特征提取，得到目标环境下多个待测芯片对应的特征曲线；对目标环境下多个待测芯片对应的特征曲线进行二分类训练，得到目标环境下多个待测芯片对应的训练结果分类差异；判断多个待测芯片在目标环境下是否存在硬件恶意逻辑。

本发明授权芯片检测方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片检测方法，其特征在于，所述方法包括： 将多个待测芯片设置在多种环境中，并对所述多个待测芯片多次输入测试向量集，采集每种环境下每次输入测试向量集过程中每个待测芯片对应的电磁辐射曲线； 对每种环境下每次输入测试向量集过程中每个待测芯片对应的多条电磁辐射曲线进行平均处理，得到所述多种环境下所述多个待测芯片对应的平均电磁辐射曲线； 对目标环境下所述多个待测芯片对应的平均电磁辐射曲线进行特征提取，得到所述目标环境下所述多个待测芯片对应的特征曲线；其中，所述目标环境为多种环境中的任一； 对所述目标环境下所述多个待测芯片对应的特征曲线进行二分类训练，得到所述目标环境下所述多个待测芯片对应的训练结果分类差异； 基于所述训练结果分类差异判断所述多个待测芯片在所述目标环境下是否存在硬件恶意逻辑； 确定所述多个待测芯片在所述目标环境下不存在硬件恶意逻辑，在除所述目标环境之外的至少一种环境中重新确定新的目标环境，并对所述多个待测芯片在所述新的目标环境下是否存在硬件恶意逻辑进行判断，直至所有的环境全部判断完成，或者所述多个待测芯片在所述新的目标环境下存在硬件恶意逻辑； 确定所述多个待测芯片在所述目标环境或者所述新的目标环境下存在硬件恶意逻辑，对硬件进行恶意逻辑分析，将分析结果输出。

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