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龙图腾网获悉深圳市金中环半导体有限公司申请的专利TF卡测试装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119007796B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411021378.X，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权TF卡测试装置是由张云海设计研发完成，并于2024-07-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本TF卡测试装置在说明书摘要公布了：本发明公开了TF卡测试装置，TF卡插腔内部滑动连接有TF卡支撑座，TF卡支撑座下端固定有升降杆，空心底座内部设有内腔，内腔内部滑动连接有升降板，升降杆下部活动贯穿至内腔内部，升降杆下部与升降板上端固定，升降板上端左右两侧均固定有铁块，内腔内部顶端左右两侧均固定有电磁铁。然后按住通电按钮，此时电磁铁通电吸住铁块，这样会带动升降板上移，升降板带动升降杆上移，之后升降杆带动TF卡支撑座上移，以此来利用TF卡支撑座推动TF卡移出TF卡插腔并掉落在空心底座上，这样工作人员直接将空心底座上的TF卡抓一把就可进行收集，从而收集测试完的TF卡较为方便并且快速，提高工作人员测试TF卡的效率。

本发明授权TF卡测试装置在权利要求书中公布了：1.TF卡测试装置，包括空心底座1、固定在其上方的顶板3和活动连接在空心底座1与顶板3之间的升降座4，其特征在于： 所述顶板3后部与升降座4后部之间安装有升降组件，所述升降座4下端均匀固定有控制盒15，所述控制盒15内部安装有电路板，所述控制盒15下端固定有针座，所述针座与电路板连接，所述针座下端连接有测试针16，所述空心底座1上端固定有TF卡托板8，所述TF卡托板8上端均匀开有TF卡插腔23，所述TF卡插腔23内部滑动连接有TF卡支撑座24，所述TF卡支撑座24下端固定有升降杆19，所述空心底座1内部设有内腔17，所述内腔17内部滑动连接有升降板18，所述升降杆19下部活动贯穿至内腔17内部，所述升降杆19下部与升降板18上端固定，所述升降板18上端左右两侧均固定有铁块21，所述内腔17内部顶端左右两侧均固定有电磁铁22，所述电磁铁22与铁块21上下对应； 所述TF卡插腔23的数量和分布与控制盒15的数量和分布一一对应； 所述电磁铁22与铁块21上下对应，所述空心底座1前端中间安装有通电按钮11，所述通电按钮11与电磁铁22电性连接，其电磁铁22外接电源，而按住通电按钮11，可使电磁铁22通电，松开通电按钮11，电磁铁22则断电。

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