华芯巨数(杭州)微电子有限公司谢俊伟获国家专利权
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龙图腾网获悉华芯巨数(杭州)微电子有限公司申请的专利电子迁移检查模块功能验证方法、计算机设备、介质及程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119089856B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411185737.5，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权电子迁移检查模块功能验证方法、计算机设备、介质及程序产品是由谢俊伟;郑文迪;吴奇键设计研发完成，并于2024-08-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本电子迁移检查模块功能验证方法、计算机设备、介质及程序产品在说明书摘要公布了：本发明涉及电子迁移功能验证技术领域，特别涉及一种电子迁移检查模块功能验证方法、计算机设备、介质及程序产品。本发明提供的方法包括：提供特征版图并将至少两个不同的特征版图组合以获得第一数量的初始用例；对初始用例筛选以获得第二数量的测试用例，其中第一数量大于第二数量；提供电子迁移规则，基于电子迁移规则生成多个测试条件参数；将测试用例分别对每个测试条件参数进行组合，以获得多个测试用例集；提供标准输出结果，基于电子迁移检查模块运行测试用例集并得到运行结果；将运行结果与标准输出结果进行比对，以验证电子迁移检查模块功能的准确性。解决了现有的对电子迁移检查进行测试验证效率十分低下的问题。
本发明授权电子迁移检查模块功能验证方法、计算机设备、介质及程序产品在权利要求书中公布了：1.一种电子迁移检查模块功能验证方法，用于验证电子迁移检查模块功能的准确性，其特征在于：包括以下步骤： 提供设计版图，设计版图由多个电路单元组合而成，挑选出部分电路单元组合而成特征版图，将至少两个不同的特征版图组合以获得第一数量的初始用例； 对初始用例筛选以获得第二数量的测试用例，其中第一数量大于第二数量； 提供电子迁移规则，所述电子迁移规则包括最大电流有效值规则、最大平均电流规则和最大峰值电流规则，基于电子迁移规则并采用等价类划分法生成多个测试条件参数； 将测试用例分别与每个测试条件参数进行组合，以获得多个测试用例集； 提供标准输出结果，基于电子迁移检查模块运行测试用例集并得到运行结果； 将运行结果与标准输出结果进行比对，以验证电子迁移检查模块功能的准确性。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人华芯巨数(杭州)微电子有限公司，其通讯地址为：310000 浙江省杭州市滨江区月明路595号迪普科技大厦15层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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