武汉联影智融医疗科技有限公司何卓彪获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉联影智融医疗科技有限公司申请的专利眼压测量方法和眼压测量系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119214590B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310804444.X,技术领域涉及:A61B3/16;该发明授权眼压测量方法和眼压测量系统是由何卓彪;杨戴天杙;刘浏;谢强;刘博;里敦设计研发完成,并于2023-06-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本眼压测量方法和眼压测量系统在说明书摘要公布了:本申请涉及一种眼压测量方法和眼压测量系统,其中,该眼压测量方法包括:根据检测到的眼压测量区域内检测到的磁场特征,判断设置有磁性部件的角膜接触镜是否偏离眼压测量位置,其中,该眼压测量位置位于该眼压测量区域内;在角膜接触镜偏离眼压测量位置的情况下,基于磁场特征对角膜接触镜进行位置校正,以使角膜接触镜处于眼压测量位置;最后通过处于眼压测量位置的角膜接触镜进行眼压测量。其能够实现角膜接触镜的位置检测和位置校正,以在眼压测量之前令该角膜接触镜处于准确的眼压测量位置,从而提高眼压测量的成功率。
本发明授权眼压测量方法和眼压测量系统在权利要求书中公布了:1.一种眼压测量方法,其特征在于,包括: 根据检测到的眼压测量区域内的磁场特征,判断设置有磁性部件的角膜接触镜是否偏离眼压测量位置,其中,所述眼压测量位置位于所述眼压测量区域内; 在所述角膜接触镜偏离所述眼压测量位置的情况下,基于所述磁场特征对所述角膜接触镜进行位置校正,以使所述角膜接触镜处于所述眼压测量位置; 通过处于所述眼压测量位置的所述角膜接触镜进行眼压测量; 所述通过处于所述眼压测量位置的所述角膜接触镜进行眼压测量,包括: 根据第二生成参数生成第二外界磁场,所述第二外界磁场用于对所述磁性部件产生推力; 检测所述角膜接触镜的感知线圈的第一谐振频率,以及所述角膜接触镜的参考线圈的第二谐振频率;所述参考线圈设置于所述角膜接触镜预设的边缘区域;其中,所述磁性部件设置于所述角膜接触镜预设的中心区域;所述感知线圈设置在所述磁性部件的内部; 基于所述第一谐振频率和所述第二谐振频率的差值,确定所述角膜接触镜的感知线圈的频率变化信息; 当所述第一谐振频率和所述第二谐振频率的差值为预设的参考差值时,确定所述角膜接触镜处于预设的形变状态; 在确定所述角膜接触镜处于预设的形变状态时,基于所述第二生成参数,确定眼压测量对象的第一眼压测量值。
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