买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉科大讯飞华南人工智能研究院(广州)有限公司申请的专利一种LED封装材料瑕疵检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119251148B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411193531.7，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种LED封装材料瑕疵检测方法是由周国华;陈彬;杜轶锋;曾文君;尹力设计研发完成，并于2024-08-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种LED封装材料瑕疵检测方法在说明书摘要公布了：本申请提供一种LED封装材料瑕疵检测方法，包括：针对分离后的各层图像，进行图像增强处理，得到清晰化的各层材料图像；针对所述识别出的交叉瑕疵区域，进行局部精细扫描，获取微米级的三维结构数据，重建出交叉瑕疵的精细形貌特征；根据所重建的交叉瑕疵结构，结合材料数据库中预先存储的各种材料性能参数，模拟计算瑕疵对LED性能的影响，包括光学、热学和机械性能；判断所述瑕疵的位置、大小、类型以及对性能的影响程度，对LED封装的整体质量进行量化评分，得到最终的检测结果和质量等级判定。

本发明授权一种LED封装材料瑕疵检测方法在权利要求书中公布了：1.一种LED封装材料瑕疵检测方法，其特征在于，所述方法包括：采用多光谱成像方法对LED封装进行扫描，获取不同波长下的图像数据，根据各层材料在不同波段的光谱响应特征，分离出基板、芯片、荧光粉层和环氧树脂层的独立图像信息；针对分离后的各层图像，进行图像增强处理，得到清晰化的各层材料图像；对增强后的各层图像，运用深度学习模型进行特征提取和缺陷检测，从图像中识别出潜在的瑕疵区域，包括裂纹、气泡、杂质，标记出瑕疵的位置和类型信息；根据所检测到的各层瑕疵信息，构建三维空间模型，将不同层面的瑕疵映射到同一坐标系中，分析瑕疵在空间上的分布关系，识别出跨层交叉的瑕疵区域；针对识别出的交叉瑕疵区域，进行局部精细扫描，获取微米级的三维结构数据，重建出交叉瑕疵的精细形貌特征；根据所重建的交叉瑕疵结构，结合材料数据库中预先存储的各种材料性能参数，模拟计算瑕疵对LED性能的影响，包括光学、热学和机械性能；判断瑕疵的位置、大小、类型以及对性能的影响程度，对LED封装的整体质量进行量化评分，得到最终的检测结果和质量等级判定。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人科大讯飞华南人工智能研究院(广州)有限公司，其通讯地址为：511400 广东省广州市南沙区南沙街金隆路37号1101-1124房；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。