瑞昱半导体股份有限公司蔡嘉璇获国家专利权
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龙图腾网获悉瑞昱半导体股份有限公司申请的专利对待测电路进行原型验证的系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119629097B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311174368.5，技术领域涉及：H04L43/50；该发明授权对待测电路进行原型验证的系统及方法是由蔡嘉璇;晏飞;于强;王曜怡设计研发完成，并于2023-09-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本对待测电路进行原型验证的系统及方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种对待测电路进行原型验证的系统以及方法。该系统包含一封包产生器、一扰乱电路、该待测电路以及一检测电路，其中该扰乱电路、该待测电路以及该检测电路实施在现场可编辑逻辑门阵列上。该封包产生器输出多个标准封包，其中每一标准封包的长度均落在标准范围内。该扰乱电路依据该多个标准封包产生多个扰乱封包至该待测电路，以使该待测电路依据该多个扰乱封包产生多个输出封包，其中任一扰乱封包的长度落在该标准范围外。该检测电路依据该多个扰乱封包以及该多个输出封包验证该待测电路的运行。
本发明授权对待测电路进行原型验证的系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种对一待测电路进行现场可编辑逻辑门阵列原型验证的系统，其中，该系统包含该待测电路，以及该系统还包含： 一封包产生器，用来输出一个或多个标准封包，其中，该一个或多个标准封包的每一者的长度均落在一标准范围内； 一扰乱电路，耦接至该封包产生器以及该待测电路，用来接收该一个或多个标准封包，并且依据该一个或多个标准封包产生一个或多个扰乱封包以供输出至该待测电路，以使该待测电路依据该一个或多个扰乱封包产生一个或多个输出封包，其中该一个或多个扰乱封包的任一者的长度落在该标准范围外；以及 一检测电路，耦接至该扰乱电路以及该待测电路，用来接收该一个或多个扰乱封包以及该一个或多个输出封包，并且依据该一个或多个扰乱封包以及该一个或多个输出封包验证该待测电路的运行； 其中该扰乱电路、该待测电路以及该检测电路是实施在一现场可编辑逻辑门阵列上。
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